HORIBA Scientific NanoLog分光荧光计是专门为检测单壁碳纳米管(SWCNTs)而设计的。现在,随着最新加入的灵敏度和吸光度测量能力的提高,NanoLog甚至更适合swcnts的应用.
由于SWCNT的长度与光致发光(PL)强度和吸光度(A)成正比,因此用户可以更好地了解SWCNT样本的性质。除了确定半导体SWCNT的浓度之外,纳米能够提供有关金属SWCNT的信息。此外,纳米仪器的敏感性增加有助于在不到3分钟内获得完整的PL激发发射基质(EEM)。图1显示了纳米系统。
图1。NanoLog系统
样品吸光度的测量
在实验研究中,将SWCNT样品定位在0.5cm路径长度的矩形比色皿上,并在981nm下稀释至≈009(图2)。激发带通= 5nm,具有0.1s积分时间/ 1nm增量;激发光栅为1200槽mm-1,在330nm闪耀。将Si-PIN二极管用作室温下的检测器。
![NIST SWCNTs的吸光度(红色)和透光率(黑色),使用NanoLog的新吸光度函数。突出的峰被标记。](https://d12oja0ew7x0i8.cloudfront.net/images/Article_Images/ImageForArticle_10455(2).jpg)
图2。NIST SWCNTs的吸光度(红色)和透光率(黑色),使用NanoLog的新吸光度函数。突出的峰被标记。
更高的信噪比和提高灵敏度
为了证明NanoLog系统提高了灵敏度,(6,5)SG SWCNT(CoMoCAT法)0.1mg L-1在D.2O,含0.1% NaDDBs表面活性剂)。NanoLog的特点是有一个1厘米的路径长度的试管,在试管中放置样品来测量与入射光成90°的吸光度。NanoLog采用了Schott RG830截通滤波器(λ > 830nm)和1" In-GaAs 512 × 1阵列探测器,N2(l)-冷却到170 K,在发射路径。积分时间× 5s= 10s,带通10nm,扫描中心位于1210nm处。在此阶段,激励单色光栅保持不变,发射光谱仪光栅为100槽mm1,在800纳米处发光。新的吸收附件在982nm处A =0.72。然后,在λ处扫描样品的光致发光exc= 568海里。与原始仪器(灰色)相比,增强的NanoLog系统(红色)发出的信号(图3)高了3倍。
![来自COMOCAT样品的PL信号在上面划出。灰色:原始纳米系统;红色:改进仪器。](https://d12oja0ew7x0i8.cloudfront.net/images/Article_Images/ImageForArticle_10455(3).jpg)
图3。来自COMOCAT样品的PL信号在上面划出。灰色:原始纳米系统;红色:改进仪器。
S / N的测定类似于先前的实验,具有相同的检测器,中心波长,切割过滤器,带通,光路,光栅和集成时间。在0.5cm路径长度矩形比色皿中,将SWCNT样品稀释至≈0.09然后从828至1520nm扫描。计算的S / N = 19 200来自(6,5)峰值和平均空白信号。使用纳米和纳米仪软件(图4),产生的EEM具有标记的重要峰(> 10%)。另外,样品组件的螺旋角图(图5)由纳米器软件生产。
![NIST样品的EEM,使用(n,m)坐标标记SWCNTs(/>最大值的10%)。](https://d12oja0ew7x0i8.cloudfront.net/images/Article_Images/ImageForArticle_10455(4).jpg)
图4。NIST样品的EEM,使用(n,m)坐标标记SWCNTs(>为最大值的10%)。
![NIST swcnts直径与螺旋角](https://d12oja0ew7x0i8.cloudfront.net/images/Article_Images/ImageForArticle_10455(5).jpg)
图5。NIST swcnts直径与螺旋角
结论
对于上述实验,很明显,升级的光学和新吸光度配件进一步增强了HORIBA Scientific NanoLog分光荧光计,产生更完整的表征,耦合越高,吞吐量更快,吞吐量,以及SWCNT实验的更多信号。
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