使用MXDPP-50的x射线检测性能表征

Moxtek的目标是设计一种DPP用于其x射线探测器产品。为了实现这一目标，该公司在2013年发布了新的MXDPP-50电子产品，如图1所示的盒装和裸板OEM版本。

第二个目标是开发自动化测试，以完全表征其DPP和X射线探测器。基本测试方法是一种自动测试，通过该测试可以调查多个不同的XPIN和DPP设置。从其余部分可以获得所有设置的性能报告。这使得快速、可靠和有意义的反馈能够使Moxtek更全面地了解其DPP在开发中的功能。这种自动测试可以在标准的峰值时间设置上快速测试DPP和orx射线PIN探测器，大约需要15到30分钟。该自动测试为广泛的测试铺平了道路，在数百个改变多个输入参数（如输入计数率、峰值时间、探测器温度等）的设置阵列上超过16小时。本文介绍了使用Moxtek XPIN的DPP的表征方法和一些测量细节^®探测器。

实验条件

图1显示了此自动化测试中使用的基本硬件。探测器的温度、峰值时间、高电压等属性由DPP控制。Fe⁵⁵同位素源自动定位的线性阶段，以设置所需的探测器死时间(或探测器输入计数率)。硬件控制使用LabVIEW程序，在测量所需设置时自动化所有硬件。在获取每个光谱后，对光谱和探测器(如fe)的150多个独立变量进行了处理和记录⁵⁵FWHM的峰值(对于两个Fe⁵⁵K_α& K_β)、铁⁵⁵通道位置，探测器内部温度，各种峰本比，探测器功率消耗，输入计数率(ICR)，输出计数率(OCR)，以及可能的其他变量。

图1所示。概述DPP和X射线探测器功能测试的基本硬件。

结果

自动测试生成的最终报告将几个输入参数相互比较。生成的信息比此处显示的信息大得多。表1显示了在XPIN系统上收集的自动测试中收集的信息子集²-BT检测器的典型温度为-35℃，检测器死区时间为50%。在每个设置中提取5个光谱以建立统计相关的结果。

峰值时间（usec）	2	4	5	8	16	20.
菲55应用(eV)	276.1	219.5	206.8	187.5	170.1	165.3
菲55半高宽标准偏差（eV）	0．12	0.19	0．17	0.19	0．3	0.36
(电子邮件保护)(比例)	3068.6	4521.8	5260.7	5629.2	6151.6	6587.7
通道峰值位置	1209.2	1229	1221.3	1216.8	1206.5	1205.5

许多其他功能依赖项也很容易获得。例如，关键变量，如Fe⁵⁵K_αFWHM峰宽可以表示为探测器温度或探测器计数率的函数。

结论

数字脉冲处理器MXDPP-50现在为Moxtek提供了完整的X射线能量色散探测器解决方案。Moxtek可以通过其新的自动化测试例程套件严格测试MXDPP-50，非常快速地提供大量信息。该测试表明，MXDPP-50工作良好，并且在不同机组之间工作一致。

这些信息来源于Moxtek, Inc.提供的材料。欧洲杯足球竞彩

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