手持式LIBS分析提供手持XRF和Spark OES的替代方案，用于分析广泛的样品类型和元素。在Libs过程中，在材料表面处产生等离子体，如在火花光发射光谱（OES）中，并且从存在的各种元件的光谱线的测量作为等离子体冷却。存在的元素由特定线的波长和给定波长的光强度与元件浓度有关。
最近SCIAPS已经推出了一个具有LIBS技术的手持分析仪。如图1所示，Z提供了移动OE的低原子数性能，同时保持手持式XRF的可移植性。
z的关键特征是：
- 脉冲，5 MJ的眼睛安全，1级额定激光
- 高分辨率（<80 pm）光谱仪（申请专利）
- 用于深紫外线（<200nm）的测量的Opti-Purege™（专利申请）和整体改进的检测限（LOD）
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图1。Z：铝合金锂和其他关键元素的手持式Libs分析
铝合金分析
Z的铝合金ID和化学的快速，精确和高度便携的技术由Z.鉴定许多常见等级的关键元素包括Mg，Si，Cr，Mn和Cu。例如，分析低浓度Mg，Cr和Cu的能力至关重要，以自信地识别几个常见的锻造等级，如6063,1100,5083 / 5086和2014,2024。
镁浓度的后两种等级不同，需要精确分析0.2％镁或更低。
另一个例子涉及普通合金1100,6061和6063. 1100和6061通过测量> 0.04％Cr和0.8-1.2％Mg唯一的鉴定。区分6063和1100需要测量0.4％Mg。356和357是铸造合金的一个例子，其只能通过镁浓度的差异，0.2％-0.45％鉴定356，0.45％-0.6％357.所有这些分析都可以用Z制造几秒钟。
表1.显示了Z libs系统的速度和性能。对于Mg，Si，Cr，Mn和Cu的检测限为2,5和10s测试时间，如表1所示。来自含有0.027％Mg的高纯度1050认证的参考材料（CRM）的Libs光谱如图所示2。
在两秒测试中，279.57和285.23nm的两个显着的mg线以超过99.7％的置信水平，检测标准。可见线甚至在2S后的0.027％的Mg浓度下，表明Libs技术提供了自信的铝合金分析所需的性能。
表格1。在Al等级中的几个关键合金元素的2,5和10 S试验的检测限制（％）。分析仪测量更多元素而不是表中所示。
| 元素 |
2秒 |
5秒 |
10秒 |
| 米 |
0.025 |
0.02 |
0.015 |
| CR. |
0.04 |
0.03 |
0.02 |
| m |
0.11 |
0.08 |
0.08 |
| 铜 |
0.02 |
0.015 |
0.015 |
| SI. |
0.25 |
0.10 |
0.08 |
SCIAPS Libs技术的一个关键优势在于它分析了具有低检测限的铝合金中的所有元素，包括低原子数元素，如Mg，Li，Be和Si。这意味着上述合金可以在仅几秒钟内分离，而不是许多手持式XRF单元所需的30秒以上。
铝合金锂
铝合金锂的分析，特别是在铝再熔化行业中，是不断增长的需求。制造的几种铝等级含有0.1％和1.5％的锂。如果这种废料与其他废料混合，则重新融化的合金有可能爆炸。图3显示了铝合金的光谱，锂1.83％。610.3和670.7 nm的大峰值代表样品中的锂。
610nm线用于量化Li降至下限约0.05％。670.7nm的更强的线可用于较低浓度。在本申请中也突出显示Z中固有的高级光谱仪技术。分析仪测量低至185nm的线，包括193nm的碳，最高可达675nm，以测量610.2nm和670.7nm的主要锂线。
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图2。用于含有0.027％Mg的1050级铝合金的2秒测试的光谱。
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图3。在含有1.86％锂的铝合金上的2秒测试的光谱。
结论
Z提供高于HHXRF的高性能，用于过渡和重金属，以及低原子数元件和铝合金。
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