使用SDD, XPIN6和XPIN13鉴别非铝金属/合金中的SS316

本文介绍了在非铝金属和合金中找到最佳探测器来识别SS316的比较研究的结果。结果表明,PIN探测器和SDD检测器同样良好的鉴定几种常见的壬烃金属和合金。但是,对于此应用,PIN探测器的成本较低和更完美的操作使其更好地选择SDD检测器。

探测器的比较

典型的SDD和PIN探测器的比较如表1所示。典型的SDD检测器的性能优于PIN检测器。除了拥有更好的终极能量分辨率,SDD探测器可以在给定的时间内计数更多的x射线。在从各种元素中确定x射线事件时,分辨率是至关重要的,而计数对于在更短的时间内获得更好的统计是必不可少的。

表1.典型SDD和引脚检测器之间的简要比较。

检测区域 55解析度 探测器内部温度。 上限输入计数率(ICR)限制 价格
典型的SDD 10 - 50毫米2 120 - 160年电动汽车 -20到-40°C ~ 500 kcps 更贵
典型的销 5 - 15毫米2 150 - 220年电动汽车 -20到-40°C ~ 100 kcps 更便宜的

典型的PIN探测器价格较低,通常用于价格敏感系统,如XRF。PIN探测器适用于多种XRF应用,包括金属和合金的测定,不需要SDD探测器提供的性能优势。

实验装置

图1显示了在本实验中使用的标准XRF设置,涉及使用Moxtek的50kV,4瓦4瓦的Ultra-Lite X射线源与钨阳极的使用。源位于50kV和15-20μA发射电流。源和样品之间的距离为25mm,将70μm铜过滤器置于源前面。对于每个检测器,样品和检测器之间的距离为25mm。

左边是XRF装置的草图,概述了最关键的部分。在右边是一个图像的设置,包括准直器的所有组件都可以看到。

图1所示。左边是XRF装置的草图,概述了最关键的部分。在右边是一个图像的设置,包括准直器的所有组件都可以看到。

Moxtek的MXDPP-50对探测器信号进行了处理。x射线源和经过验证的探测器上面有铝套黄铜准直器。为了确保XRF信号仅来自于样品,需要使用铝套来防止杂散的XRF信号来自黄铜。铜滤光片可消除~15keV以下源的大部分x射线,使该区域具有较好的信噪比。然而,铜确实允许一个在~8.3千伏的钨Lá线路通过。

钨Lá线提高了镍和低Z元素的激发,也产生了一个非xrf峰。这可能会让没有经验的操作人员或XRF算法感到困惑。从一个干净的塑料样品的XRF光谱如图2所示,显示了来自源的康普顿散射钨Lá线和康普顿散射轫致辐射。

光谱采集自塑料样本,显示康普顿散射背景从一个干净的XRF样本。

图2。光谱采集自塑料样本,显示康普顿散射背景从一个干净的XRF样本。

实验的程序

实验比较了SDD、XPIN6和XPIN13探测器对非铝合金和金属的XRF性能。本实验所用各探测器的关键技术指标如表2所示。

表2.SDD、XPIN6和XPIN13检测器的功能比较

探测器面积 探测器厚度 55应用解决方案 SS316光谱在30秒内计数 死时间 民进党峰值时间 管电流 检测器温度
SDD 20毫米2 500µm 150年电动汽车 360K. 27% 8µ交会 20µ -45°C
XPIN6 6毫米2 625µm 165年电动汽车 125 k 24% 20µ秒 20µ -35°C.
XPIN13 13毫米2 625µm 200年电动汽车 139 k 27% 20µ秒 15µ -35°C.

通过调制管道发射电流来比较Quazi标准化XRF的性能,每次检测器以30%的死区时间运行。与PIN探测器相比,SDD具有更好的技术性能。

实验结果

这种XRF装置不适用于检测元素周期表中钙以下的元素。因此,铬及以上元素只在SS316中测定。每个探测器记录来自SS316源的XRF光谱,时间为30秒。SDD、XPIN6和XPIN13的全谱图如图3所示,显示了所有的主要元素。5-9keV区域的光谱数据如图4所示。可以看出,所有元素的分隔Ká行都定义得很好,便于明确标识。

XRF光谱从316不锈钢样品收集,超过30秒,所有主要峰标记。计数的Y轴是对数刻度。

图3。XRF光谱从316不锈钢样品收集,超过30秒,所有主要峰标记。计数的Y轴是对数刻度。

图3中采集的XRF光谱,线性y刻度,能量范围为5 - 9keV。

图4。图3中采集的XRF光谱,线性y刻度,能量范围为5 - 9keV。

从SS316样品中获得的光谱通过XRF基本参数(FP)程序将其转换为元素浓度。当在FP程序中正确配置时,每个检测器都提供了几乎相同的结果。从每个检测器得到的浓度列于表3中。最后一列提供了在每个光谱中确定的x射线事件的总数。

表3.对SS316样品进行30秒和10秒扫描,在死区时间为30%的情况下,比较三种检测器得到的浓度

Cr m 有限公司 光谱总计数
列表SS316 16 - 18.5% <2% b 10-14% 2-3% --- ---
SDD-30交会 16.8 1.37 69.4 9.8 1.8 0.03 0.73 360K.
PIN6-30交会 16.8 1.29 69.2 9.9 2.2 0.03 0.73 125 k
PIN13-30交会 16.9 1.32 68.8 9.8 2.4 0.03 0.49 139 k
SDD-10交会 16.9 1.27 69.3. 10.0 1.8 0.06 0.55 120 k
PIN6-10交会 16.6 1.54 69.1. 9.9 2.2 0.03 0.45 41.6 k
PIN13-10秒 16.9 1.25 68.7 9.9 2.4 0.03 0.71 46.3 k

每个探测器分别进行30秒和10秒的XRF扫描,然后进行比较。结果表明,所有探测器都能在10秒内进行识别。对于金属和合金的低于百分之一水平的元素识别,实际上并不需要更高的SDD计数率。每个探测器提供的元素浓度在1%或更少的每个元素。这种精度水平足以确定SS316。

结论

结果表明,PIN探测器和SDD探测器对几种常见的非铝金属和合金的测定是一样有效的。然而,对于这种应用,PIN检测器的成本更低,操作更完美,使其优于SDD检测器。

该信息的来源、审查和改编来自Moxtek, Inc.提供的材料。欧洲杯足球竞彩

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引用

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    Moxtek,Inc ..(2019年5月29日)。使用SDD,XPIN6和XPIN13识别非铝金属/合金中的SS316。AZoM。从6月22日,2021年6月22日从//www.wireless-io.com/article.aspx?articled=10993中检索。

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    Moxtek公司. .2019.使用SDD, XPIN6和XPIN13鉴别非铝金属/合金中的SS316.AZoM, 2021年6月22日观看,//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=10993。

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