使用ATR光谱对O形圈的释放剂区分

ATR光谱可用于区分O形圈的释放剂。在O形圈制造过程中，O形圈模具涂覆脱模剂，或者脱模剂嵌入模具中，以便从模具中取出O形圈。用于O形环的材料决定了脱模剂的组合物。检测释放剂的能力对于制造商和用户来说都很重要。

在制造过程中，O形环可以卡在模具中。O形圈使用者可以考虑待化学惰性的O形圈，并且任何残留剂上的残留剂可能导致临界污染。因此，制造商和用户都必须了解释放代理的组成。

红外光谱通常用于检测O型环上的脱模剂。然而，由于在环的表面形成非常薄的一层，在检测过程中可能会遇到许多问题。此外，O型环大多填充有碳，尺寸非常小。

因此，需要一种适合于小型采样区域的表面采样方法。单反反射ATR是一种合适的技术，该应用笔记描述了ATR可用于将释放剂与用于O形圈的材料区分开的方式。

实验程序

实验分析了一个红棕色Buna O形圈，黑色viton^®1 O形环，另一个黑色O形圈，其起源未知。黑威人^®1 O形圈和另一黑色O形环有黑色外层，而Buna O形圈具有白色表面涂层。它们的外表表面测量在“如”条件下，而每种O形环的一小片用于检查其内部。Harrick MVP-Pro™和商业FT-IR光谱仪用于检查。

图1。MVP-Pro。

MVPPro™是ATR配件，配备3mm直径的半球形Si晶体，其固定在45º入射角。低角度射线撞击了ATR晶体。不需要这些光线，因此，用于阻塞其中一些光线的MVP-Pro™使用40º掩模。分辨率为8厘米^-1，在中红外区域收集完整的红外光谱，并且信号平均超过32扫描。

结果和讨论

图2。Viton O形圈的ATR光谱。外面：黑色;里面：蓝色。

Viton O形圈的两个ATR光谱证明了预期由该含氟弹性体表现出的典型聚（脂族）氟化物的特性。光谱都非常相似，表明O形环具有非常薄的脱模剂涂层。左右800cm.^-1和1020cm.^-1，可以观察到边缘光谱差异。

图3。viton的内表面和外表面之间的差异^®或者。

当减去图3中所示的两个光谱结果时，结果表明它属于硅油。硅氧烷通常用作脱模剂。

图4。Buna O形圈的ATR光谱。外面：黑色;里面：蓝色。

图4.显示两个光谱都具有弯曲基线。这表示采样区域的高折射率。可能的原因可能是由于脱模剂涂层厚度和基板由基板构成的碳填充量。

在O形环的外侧上的ATR光谱也将O形圈材料作为涂层相当薄。但是，在3515厘米左右^-1，1532厘米^-1，1456厘米^-1和1404厘米^-1观察到不同的乐队。释放剂是这些独特的带的原因。此外，内部O形圈材料的光谱没有这些带。

图5。黑色O形圈的ATR光谱。外面：黑色;里面：蓝色。

图5中的ATR光谱来自其来源所知的O形环。可以清楚地分化O形环基材和脱模剂。O形环内侧的光谱是弯曲基线的形式，表明O形环填充有碳。涂层的光谱没有表现出任何显着量的基线效果，这表明与Buna O形环上的涂层相比，涂层不是很薄。

结论

本文中所示的红外光谱表明SI微型ATR方法和MVPPRO TM可用于区分散装O形环材料和O形环脱模剂。正在进行进一步的工作，以找出进一步减轻对O形环光谱作用的方法。

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