EDAX低能量X射线光谱仪（LEX）是波长色散光谱仪（WDS）光谱仪，其由能够执行平行光束操作的X射线光学器件组成。高收集光学元件提供高效率，以分析光元素，特别是o，b，n和c，具有从80eV到2.4 kev的完整操作范围。
本文讨论了使用Lex检测钢上碳化物层中发现的轻质元件的方法。
应用程序
为了了解不锈钢上硬质合金层的成分和分布，需要高精度的x射线数据采集进行量化。
光谱仪的条件
用于WDS应用的光谱仪是LEXS。用少量的纯元素确定了碳化物标准序列，以便对待测碳化物进行定量分析。所有样品均采用20 ~ 25 nA的束流和10 kV的加速电压进行测量。
在基思利皮科电流表的辅助下，利用钨丝扫描电子显微镜(SEM)观察束流。结合WDS数据，对样品进行能谱分析(EDS)。
同时采集WDS和EDS数据为用户提供了应用EDS数据的一些更高原子序数样本的能力;但是，这不是在这种情况下进行的。两个探测器的起飞角为35°，仪器的工作距离为17毫米。该距离特定于仪器，如果SEM室允许，则可以更小。
标准测量
在WDS中精确定量需要标准。对于这项研究，碳化物标准CR3.C2，sic，cr7.C3.， TiC和Fe3.C被利用。EDS和WDS谱从标准FE收集3.C和TIC分别在图1和2中示出。
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图1。光谱的铁3.C. WDS数据（顶部）显示C K和Fe L线，而EDS频谱（底部）显示C K，Fe L和K线。
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图2。TiC的WDS(上)和EDS(下)谱。
硬质合金测量
分析涂有等离子喷雾的铸铁以展示钢上的碳涂层。碳化物测量约2μm宽10μm长，并在点模式下测试。图3示出了从样品聚集的光谱，其选择性和高灵敏度清楚地示出。从量化的数据，通过利用测量的标准来计算碳化物层的浓度。表1显示了结果。
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图3。WDS（顶部）和碳化物的EDS（底部）光谱。
表1。碳化物的定量结果。
| 元素 |
Wt % |
在% |
K-Ratio |
Z. |
一种 |
F |
净强度 |
背景强度 |
强度误差 |
P / B. |
| C K |
22.68 |
59. |
0.1133 |
1.193 |
0.3706 |
1.0003 |
6238.6 |
228.4 |
3.52 |
27.31 |
| Cr L. |
57.52 |
34.56 |
0.415 |
0.959 |
0.6401. |
1.0001 |
10144.47 |
3208.13 |
1．18 |
3.16 |
| 莫L |
19．8 |
6.45 |
0.1874 |
0.851 |
0.9967 |
1.0027 |
466.04 |
132.46 |
4.04 |
3.52 |
| 总计 |
One hundred. |
One hundred. |
|
|
|
|
|
|
|
|
Lex.
LEXS经过优化处理低能量微分析。它采用创新的高收集光学(HCO)，记录最大计数率，以最高分辨率提供快速x射线分析。LEXS是专为低能x射线微分析而设计的，分辨率低于20ev, x射线能量低于2.5 keV的峰值背景比高。它适用于克服如N Kα来自Ti Lα和Si Kα来自Ta Ma或W的重叠，计数率足够高，测试速度不是该系统的限制。
结论
配备高性能光学元件的Lex适用于从K到S K检测光元件。Lex系统在数据中显示了在钢上建立碳化物浓度的能力。无疑表明，LEX是EDS系统的独特互补工具，并有助于精确地确定光元件。
这些信息已经从EDAX公司提供的材料中获得、审查和改编。欧洲杯足球竞彩
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