用XRD研究硅薄膜中的镍

表征薄膜/层和涂层的最常用的结构分析技术之一是X射线衍射。由于各种应用材料的开发,对薄膜和涂料分析的需求在研究和工业实验室中都在增长。欧洲杯足球竞彩例如,这种欧洲杯足球竞彩材料用于光伏收集器,用于绿色能量收集,反之亦然作为用于在激光器和LED中产生光的材料,或作为先进光学应用的材料。

GIXRD(掠入射x射线衍射仪)可以表征多功能无机和杂化有机-无机薄膜(纳米尺度)的晶体结构。这是必不可少的,因为化合物的结构极大地影响了其光学和电子性质。在GIXRD中,固定的grace角(~0.5°- 2°Ω)用于测量的不是基片,而是层。

为几个应用设计薄膜材料的另一个参数是某些层的厚度。欧洲杯足球竞彩X射线反射测量仪(XRR)是用于确定薄层厚度的标准方法。它基于X射线之间的干扰反射在材料中的不同层上。

仪器

Thermo Scientific™ARL™Equinox系列表示一系列简单,用户友好的台式系统的XRD仪器,以进行常规分析,以更复杂的落地,高性能,研究等级系统。

Thermo Scientific™ARL™Equinox 100利用定制设计的15 W CO或50 W CU高亮度微对焦管,带有镜子光学器件。操作本仪器不需要外部水冷却器。薄膜附件提供计算机控制的Ω和Z运动,用于对准和测量样品(CF.图1)。该台台仪器在实验室或现场之间运输而无需任何特殊的基础设施。

与其独特的曲线位置敏感探测器(CPS)相比,ARL Equinox 100(图2)提供了更多的快速数据收集,这些衍射仪由于其独特的曲线位置敏感检测器(CPS)而实时和同时测量所有衍射峰,并且因此适用于薄膜的快速筛选使用gixrd样品。

薄膜附件。

图1。薄膜附件。

ARL EQUINOX 100衍射系统。

图2。ARL EQUINOX 100衍射系统。

实验

在仔细对准Z和ω后,使用ARL股份100(Cukα辐射:1.541874)进行Si衬底样品(1层,306.9埃厚度;轴)的Ni的测量。使用Symphonix(数据处理),MAUD(XRR数据细化)实现数据处理和评估!配备COD数据库(定性阶段分析)。

结果

GixRD用于研究Ni层的晶体结构。XRD模式稍后与数据库(COD)进行比较,该数据库(COD)清楚地允许分配公共NI结构类型(空间组FM3.M,A = 3.5238Å)在测量时间的1分钟后(图3)。

吉克斯特模式

图3。GIXRD谱图(20 - 90°2θ掠射角0.5°)。

为了优化XRR数据,布置与空气相比的含有Si衬底,缓冲层和最终Ni层的模型,并且在结束步骤中,所有参数都独立地精制。该模型产生足够的合适(CF.图4和表1)。

XRR模式

图4。XRR图案(黑色; 0 - 4°2θ),配合(红色);对数标度的强度。

表1。XRR细化结果。

rwp. 0.042
χ2 2.47
厚度(Å) 320.7 (11)
粗糙度(在Å) 3.78(32)

精制和给定厚度之间的偏差为5%,这对于台式系统来说是可接受的。

结论

借助陆军研究实验室的EQUINOX 100,在1分钟的测量时间内获得完整的GixRD扫描,使得可以区分样品的各种类型或无定形/结晶特性。样本对齐是一种简单的过程,不需要高级操作员。

甚至XRR的测量也是可能的,这要归功于ARL EQUINOX 100的x射线反射光学所产生的几乎平行的光束。测量的评估使以合理的精度确定层厚成为可能。

与薄层附件相结合的ARL Equinox 100是工业和学术研究中的基本薄膜/涂层调查的用户友好的系统。它允许快速方便的QC / QA程序,即使是传统的运营商。

此信息已采购,从Thermo Fisher Scientific - 元素分析仪提供的材料提供和调整。欧洲杯足球竞彩

有关此来源的更多信息,请访问Thermo Fisher Scientific - 元素分析仪。

引用

请使用以下格式之一在您的论文,纸张或报告中引用本文:

  • 美国心理学协会

    赛莫费雪科学-元素分析仪和相位分析仪。(2019年12月02日)。XRD硅薄膜镍调查。AZoM。从Https://www.wireless-io.com/article.aspx?articled=15243从Https://www.wireless-io.com/10。

  • MLA.

    赛莫费雪科学-元素分析仪和相位分析仪。“用XRD研究硅薄膜上的镍”。AZoM。2021年7月30日。

  • 芝加哥

    赛莫费雪科学-元素分析仪和相位分析仪。“用XRD研究硅薄膜上的镍”。AZoM。//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=15243。(2021年7月30日生效)。

  • 哈佛

    赛莫费雪科学-元素分析仪和相位分析仪。2019年。用XRD研究硅薄膜中的镍。Azom,于2021年7月30日,//www.wireless-io.com/article.aspx?articled=15243。

问一个问题

您是否有疑问您对本文提出问题?

留下您的反馈意见
提交