使用五种不同种类的O形圈进行了测试inanoKLA的凹痕系统。表1中显示了每个数据的数据。在室温下，使用平坦的圆柱打孔（d = 100 µm）来测量每个O形圈的复杂模量。该方法是“动态扁平打孔复合模量”，其中将打孔压向下，直到与O形圈完全接触。此时，使用一系列振荡频率在1到200 Hz之间，使用了Inano来找到存储模量（E'）和损耗模量（E”）。
表格1。O形圈样本信息
| ID |
产品名称 |
35 Hz的存储模量（MPA） |
35 Hz的损失模量（MPA） |
损失因子在35 Hz处 |
| 1 |
耐油的Buna-N多功能O形圈尺寸210 |
34.40±0.93 |
6.11±0.13 |
0.18±0.001 |
| 2 |
超弹性高温硅环 |
18.53±0.55 |
1.16±0.04 |
0.06±0.001 |
| 3 |
耐化学多功能O形圈 |
14.93±0.65 |
7.42±0.32 |
0.50±0.003 |
| 4 |
抗蒸汽的EPDM O形圈 |
47.33±0.68 |
6.06±0.07 |
0.13±0.003 |
| 5 |
耐油的Buna-N多功能O形圈尺寸202 |
27.96±0.62 |
5.38±0.07 |
0.19±0.003 |
这inano仪器凹痕系统可以评估与传统DMA相同的参数，但是测量值更焦点，结果更快，更易于获得。例如，图1显示了与频率变化有关的储存模量（也称为弹性）和图2损耗模量（或阻尼）。显然，在测试的O形圈之间机械性能完全不同，这意味着应考虑环的选择。例如，硅O形圈显示出与振荡频率不同的特性，但其他特性却是频率依赖性的，尤其是样品3化学物质的O形圈。
图1。通过振荡凹痕测量的O形圈样品的存储模量
图2。通过振荡凹痕测量的O形圈样品的损失模量
此信息已从KLA-Tencor公司Nanomechanics，Inc。提供的材料中采购，审查和调整。欧洲杯足球竞彩
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