对于质量控制目的，需要在显微镜下检查晶片，例如半导体或平板显示器（FPD）芯片，以验证它们是否满足与电路图案和颜色相关的规格。利用常规显微镜，使用明菲场照明来观察晶片和黑暗场照明的颜色以观察电路图案。为了在晶片上编译完整的质量控制报告，需要使用这些技术中的每一种获取图像，重复在它们之间来回切换。因此，使用常规显微镜产生晶片的质量控制报告是耗时和效率的效率。
来自奥林巴斯的解决方案
奥林巴斯'MX63和MX63L工业显微镜特色MIX照明设置，结合亮场和暗场的图像在一个。该功能提供了一种快速、高效的检测FPD和半导体芯片的方法，可以同时观察颜色和电路图案，具有高分辨率、清晰度和清晰度。生成报告所需的时间大大缩短了。
产品特色
MX的工业显微镜系列提供了以下几个优点，包括以下优点：
- 从开始到结束的平滑工作流程，通过多种可视化增强功能和卓越的光学性能，在洁净室设置中保持不变
- 简单，易于调节的设置，如显微镜软件支持和辅助的焦点，光强度和光圈尺寸。甚至具有相对较少的经验的技术人员也可以在检查后产生高质量的观察。
- 优异的透明度和敏锐的重点，可用于高精度测量，源于奥林巴斯数十年的长期建设高质量光学成像仪器
- 模块化设计，具有各种部件和附件，提供了将显微镜定制到用户特定需求的可能性，而无需重大投资
使用的产品
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奥林匹斯山MX 63和MX 63L显微镜提供了可靠的观察高达300毫米大小的晶圆，以及印刷电路板，平板显示器，和其他大型电路部件。灵活的功能，以及人机工程学设计与直观的控制，确保MX63和MX6L显微镜舒适和易于使用。模块化设计使系统能够在最佳条件下观察一系列对象。当MX63和MX6L显微镜与OLYMPUS Stream一起使用时®图像分析软件，可以简化检查程序和某些设置自动化，因此完整的过程更快，更高效，从观察到最终报告创建。
这些信息来源于美洲科学解决方案集团的奥林巴斯公司提供的材料，经过审查和改编。欧洲杯足球竞彩
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