通过电子和电子元件越来越复杂，需要在这些部件上的金属饰面铺设在较小的特征上，作为更薄的层，并控制到更紧密的公差。如果饰面太薄，产品将无法满足性能规范，可能过早失败，冒险冒险索赔和声誉损坏。同样，如果镀板太厚，货币和材料被浪费，并且机械拟合也与可能导致昂贵的废料或返工的潜在问题相关。欧洲杯足球竞彩
X射线荧光（XRF）是一种非破坏性，快速和用户友好的技术，因此它广泛用于测量涂层的厚度和组成。为了测量小特征的涂层，传统的XRF仪器使用机械准直，将X射线管的光束尺寸降低到毫米的馏分。这是通过将金属块放置的，在管前面钻孔，钻孔通过钻孔，允许与孔对齐的X射线进行横跨并到达样品。大多数X射线管输出不能用于分析，因为它被准直器块阻挡。
多毛细管光学器件提供了一种更新的方法来测量细节。它是由弯曲和锥形的微小玻璃管阵列组成的聚焦光学元件。类似于光线在光纤技术中引导的方式，通过反射引导X射线。多毛细管光学匹配与微点X射线管匹配，以收集更多的管输出。这将其集中在具有额相的较小区域，这是大于机械准直系统的数量级。在XRF涂料分析仪中使用多百分点光学器件具有许多益处。
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图像信用：F.M.Callahan.
1个较小的功能测量
光束尺寸多百葡萄球光学器件小于20μm，这使得可以测量连接器，微电子，晶片，引线框架和复杂电路板上的超细功能。这使得能够测量机械准直器无法实现的区域。
2薄涂层测量
配备有多百分点光学器件的XRF分析仪可以通过将更多的X射线管输出聚焦到样品上来测量纳米级涂层。
3增加了测试吞吐量，具有更高的自信心
由光学器件产生的更大强度导致更高的计数率。在XRF中，较高的计数率表示增强的精度和更快的结果。这使得能够在任何给定的时间段内进行更多测量，并在结果中保证更高，导致高质量的控制和更严格的生产。
4更容易符合规格
使用XRF在建立和控制光洁度厚度时通过性能规格IPC-4556进行（无电镀镍/化学钯/浸入金）和ENIG（化学镀镍/浸入金）分析。这些测试必须在明确的公差范围内表现出性能水平。使用毛细管光学器件可以更容易地实现这种性能水平。
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