利用扫描电镜对非导电样品进行电荷消除

由...赞助Tescan USA Inc.2018年6月6日

使用电子显微镜观察生物标本经常受到充电问题的影响。当电子束用于非导电性材料时，就会产生电荷，从而引起辐照，导致样品表面静电电荷的积累。欧洲杯足球竞彩这种电荷的累积会使样品的成像和化学分析特别具有挑战性。

高质量的SEM技术

为了缓解这个常见的问题，可以使用简单的方法;例如，在样品表面应用导电层，或在较高压力下成像。

然而，重要的是要注意，使用不适当的涂料或低真空观察可以降低仪器的分辨率，潜在地隐藏精细结构，并影响电子显微镜的性能和分析潜力。

高质量的扫描电镜技术，就像小说TESCAN S8000扫描电子显微镜可以帮助避免常见问题，如通过其BrightBeam™SEM柱技术充电。

通过使用如先进技术，即使在观察非导电的充电样品时也可以获得清晰，清洁和清晰的图像。即使不依赖于低光束能量或导电涂层，也可以获得这种高级成像。

TESCAN S8000的设计确保了高信号吞吐量可以实现，即使在非常低的波束能量。在一个已经很强大的检测系统上增加新的过滤技术意味着充电可以大大减少。

下面的图片展示了TESCAN S8000如何结合这些非常有用的特性来检测硅藻细胞的细胞壁。

在这里，贝壳具有高度复杂的形态，包括由许多纳米孔组成的表面。

在这种非导电性生物样本上使用传统的成像技术在以前是很有挑战性的，因为表面有大量电荷积聚，但是Tescan S8000它的BrightBeam™柱技术允许在不引起充电工件的情况下获得出色的图像。它还提供了更高的空间分辨率，即使是在硅藻等问题样本上。

左图为硅藻壳壁的横向概况，右图为硅藻壳壁的细节。地形对比是通过E-T探测器实现的

图1所示。左图为硅藻壳壁的横向概况，右图为硅藻壳壁的细节。地形对比是通过E-T探测器实现的。

右侧图像左侧和表面细节的硅藻的细胞壁概述。该结构在1KeV下成像，以提高与E-T检测器的表面敏感性

图2。右侧图像左侧和表面细节的硅藻的细胞壁概述。该结构在1KeV下成像，以提高与E-T检测器的表面敏感性。

这些信息已被采购，从Tescan USA Inc.提供的材料进行审核和调整欧洲杯足球竞彩

欲了解更多信息，请访问Tescan USA Inc.

请使用以下格式之一在您的论文，纸张或报告中引用本文：

APA
Tescan USA Inc ..（2019年8月01日）。使用SEM对非导电样品的充电消除。AZoM。从6月20日，2021年6月20日从//www.wireless-io.com/article.aspx?articled=16038中检索。
MLA.
Tescan USA INC ..“使用SEM在非导电样品上取消取消”。氮杂．2021年6月20日。< //www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=16038 >。
芝加哥
Tescan USA INC ..“使用SEM在非导电样品上取消取消”。AZoM。//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=16038。(访问2021年6月20日)。
哈佛
Tescan USA Inc .. 2019。利用扫描电镜对非导电样品进行电荷消除．Azom，浏览2021年6月20日，//www.wireless-io.com/article.aspx?articled=16038。