激励发射矩阵（EEM） - 导轨

激发发射矩阵（EEM）是一种特定的测量，其变得越来越受到尊重和广泛应用于荧光光谱的领域。EEM基本上是三维扫描，导致激发波长与发射波长与荧光强度的轮廓图。

EEMS具​​有各种实用用途，这些用途特别有益于需要多分量分析。这些通常被称为提供各种样品的分子指纹。

早期发布的用途EEM光谱学是在20世纪80年代。Koller于1986年使用EEM在人血清中发现的低密度脂蛋白内的色氨酸荧光;除了在同一年的leiner，他用它可以从肿瘤患者那里看待人血浆中的荧光成分。由于这些传统的荧光仪有三种关键方式，EEM比传统的扫描荧光仪更强大。

图1。典型的激发发射矩阵（EEM）

首先，传统的扫描光谱荧光计不能补偿不同浓度的荧光分子。

这种现象称为内部滤波器效果（IFE），并且通过在较高浓度的样品中发生的吸收来使传统扫描光谱荧光仪引起传统扫描光谱荧光计的问题。这通常会出现在0.1至0.2吸光度单位上方。

可以用传统的荧光计校正IFE，但这需要在单独的不同吸光光度光谱仪上采集次要测量，然后根据需要调节测量的荧光信号。

除了创建额外的工作负载之外，该校正技术可以证明由于该校正不同时发生并且具有相同的精确卷。因此，传统的扫描荧光仪不能提供真正的集中独立性，从而严重限制了传统EEM准确识别多种样品的能力。

其次，因为荧光仪根据定义测量荧光，所以它们缺乏对所有非荧光分子的重要颜色和吸光度信息。该信息可能是任何多组分分子鉴定的重要组成部分。

最后，单通道扫描仪器非常慢，可能需要几分钟甚至最多一小时才能收集一组完整的数据。扫描荧光仪仅限于它们在一天中实际收集的eEM数据的限制，因此仅限于使用在EEM的获取时间内不会改变或衰减的样本。

没有IFE校正的额外实施，准确性EEM荧光仅限于仅具有小于0.1至0.2的吸光度值的浓度的样品。为了充分访问荧光EEM的功率和潜力，必须使用多变量软件方法。这些包括经典最小二乘法（CLS），主成分分析（PCA）和并行因子分析（PARAFAC）。

内部过滤效果是多少？

内部滤波器效果由两个不同的过程组成。首先是初级滤波器效果（PIF），这是由于吸收的励磁光强度逐渐减小，因为液体样品的光路长度在到达荧光体积之前。

第二个是次级滤波器效果（SIF），其是由于未被激励梁直接激发的样品的零件而减少所发射的荧光强度。

内部滤波器效应的光谱后果

EEM越来越多地用于水的质量分析，特别是对于发色体溶解有机物（CDOM）的研究。这种溶解的有机物质可包括腐殖酸，氨基酸，富甲酸和天然水源中腐蚀物质的其他实例。它还可以包括水处理过程的消毒副产品。

图2。由于测量体积外的样品吸收，蓝色激发光强度逐渐减小。由于发射的荧光的重吸收，红色发射光降低。

这里，EEM用于突出以非常低浓度的存在，通常在PPB范围内。用于此目的的仪器理想地将同时测量吸光度和荧光光谱。

图3。内部滤波器效应的光谱后果。由于荧光的重吸收，荧光光谱的短波长强度降低。增加光密度样品的荧光光谱没有IFE校正，右侧和IFE校正。

荧光浓度仅在小于约0.1至0.2的吸光度值下线性。因此，更高的吸光度样本必须使用UV可见光谱的测量和应用，以确保对内滤效应的荧光强度进行校正。

此信息已采购，从Horiba Scientific提供的材料审核和调整。欧洲杯足球竞彩

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