发展工业描述石墨烯的方法

无损、非接触式表征石墨烯的电学性质。资料来源:2 d材料4欧洲杯足球竞彩,042003(2017),知识共享。

图1所示。无损、非接触式表征石墨烯的电学性质。资料来源:2 d材料4欧洲杯足球竞彩,042003(2017),知识共享。

描述石墨烯的电学性质和其他二维材料正在迅速成为工业应用的瓶颈。欧洲杯足球竞彩

尽管大规模生产品质一流石墨烯迅速进展,开发实用的表征方法落后。常见的方法是工业使用太慢或者他们对设备造成无法修复的损伤。

石墨烯

在最新出版在《二维材料,科学家从丹麦、英国和西班牙相比,电子测量,然后映射属性的标准欧洲杯足球竞彩方法,提出工业可伸缩的解决方案。对于大多数应用程序的单层石墨烯在光电、低功耗、高速电子和光电、电子性质如表面电阻率、载流子迁移率,和背景掺杂载体密度是至关重要的。

最常用的方法,测量这些属性在石墨烯的研究中,标准光刻技术,尽管是有用的婴儿阶段石墨烯技术,与石印抵制污染设备问题或无法删除,导致不可逆转的损害电子样本的质量。

此外,该方法耗时,需要每天至少一半样品制备。加快样品制备,可以使用直接激光光刻技术(DLL),每个晶片大约需要1 - 2小时。

在这个过程中,金属接触沉积在固定地点使用模板面具,而石墨烯设备定义了激光烧蚀。即使它绕过石印抵抗残留,速度比标准光刻,DLL收益率固定装置几何,因此只适用于特定的应用程序,也就是说,它不调查石墨烯原有的电影。

原始的石墨烯薄膜

描述原始石墨烯的电子性质的电影,然后使用一个自定义应用程序的电影只能用非破坏性方法执行。微观四点探针(M4PP)就是这样的一个方法。M4PP推出在2000年作为一个超小型替代传统四点探索用于微电子。M4PP是理想的薄膜和脆弱的表面,如石墨烯,因为它包含的敏感micro-fabricated悬臂电极在一个硅芯片。该方法可用于non-patterned石墨烯电影和每分钟大约一个设备上进行测量。

非接触、非破坏性太赫兹时域光谱技术(THz-TDS)似乎是一个最可行的解决方案的速度更快,工业规模装置测试。THz-TDS执行通过测量太赫兹脉冲的衰减通过样本传输或反射回来。这种方法可以测量电气性能的石墨烯在10毫秒每像素分辨率比100µm。

论文的作者,题为“映射大面积石墨烯的电学性质”,认为THz-TDS是完美的候选人描述石墨烯薄膜质量,一致性,和速度所需的石墨烯进入大众市场的产品。

这些信息已经采购,审核并改编自Graphenea提供的材料。欧洲杯足球竞彩

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