条形涂层材料预先和邮政后表欧洲杯足球竞彩面分析

条状涂层材料通常用于光学应用欧洲杯足球竞彩,用于去除精细材料表面的小颗粒和油脂。通常包括激光光学、掩模光栅、望远镜透镜和折射器。使用一个小刷子,一个清晰的红色溶液,其中包括聚合物的混合物被应用到材料,然后留下设置。固化后,聚合物涂层被剥落,形成无颗粒的原始表面。

本研究的主要部分是除去表面污染物的程度,如果聚合物溶液在表面上留下任何微量材料。这可能会影响清洁表面的光/电子性质。

以前的XPS研究1,2在施用后分析了表面并发现表面在碳污染中耗尽,随后沉积几乎没有。这些XPS研究是使用旧仪器进行,其中敏感性性能,因此,检测极限,低丰度材料的仪表不同于今天使用的仪器。欧洲杯足球竞彩

对于本研究,清洁溶液适用于三种不同的材料:欧洲杯足球竞彩

  • 铝金属箔
  • 硅晶圆
  • 玻璃显微镜幻灯片

将探索表面污染的调整,从而进行量化,预先和清洁后。已经在本研究中使用的条带涂层是首次接触TM值通过光子清洁技术制造的聚合物溶液。

实验

利用最先进的轴谱仪,达到XPS。在0 ~ 1350 eV的大能量范围内收集了调查光谱。为了减轻光电子的损失和随后的电荷积聚,同轴电荷中和器被使用。分析的样品是未涂布(未涂布)、涂布溶液(涂布)和去除涂布后(后涂布)。

第一个联系人TM值层被应用到所有的表面使用由制造商制定的技术,然后使用提供的胶带拆除。为了确保涂层完全干燥,样品至少要留一个小时。

结果

在将三个系统(Al,Si和玻璃)引入分析XPS分析室之后,对三个系统(Al,Si和玻璃)的原始和涂覆表面聚集了测量光谱。还通过利用原位显微镜(见图1)来获得光学图像。聚集用于预清洁表面和清理后表面的光学图像表明在原始表面上存在的颗粒的卓越分布。

光学显微镜图像的硅片表面前(左)和后(右)条状涂层清洗。

图1。光学显微镜图像的硅片表面前(左)和后(右)条状涂层清洗。

柱状清洁,这些颗粒的量显着降低。欧洲杯猜球平台在图2中,可以观察到Al箔的示例测量光谱预先清洁和清洁。还包括应用但未除去的聚合物涂层的光谱。该表面主要由氧气和铝制成,由铝金属的氧化形成,这是预期该系统的。

碳以外来形式存在,还有少量的氟和氮,它们很可能是表面污染物。通过添加镁元素,可以通过固溶强化增强材料的性能,并提高箔片的应变硬化能力。

调查光谱在添加涂层后,Al 2P和2S信号中显示出完全损失,表明膜覆盖率为100%,膜厚度大于XPS的分析深度。如预期的那样,存在的元素是C,O和N.

用于施用(红色)涂层(绿色)对Al箔的调查光谱比较。

图2。用于施用(红色)涂层(绿色)对Al箔的调查光谱比较。

20分钟后,薄膜变得干燥,可以使用规定的技术剥离。然后重新重叠表面,并且可以在表1中看到表面浓度的调节。

Na和Sn的外观是最显着的 - 比较清洁后的光谱详述3.这些元素在所有三条清洁表面上发现了这些元素,更重要的是,在Si晶片或Al的原始表面上没有观察到任何元件挫败。

表1。Al箔,Si晶片和玻璃滑动处的表面元素组成和涂层后涂层去除(红色)。

Al箔,Si晶片和玻璃滑动处的表面元素组成和涂层后涂层去除(红色)。

Al箔,Si晶片和玻璃滑动处的表面元素组成和涂层后涂层去除(红色)。

Al箔,Si晶片和玻璃滑动处的表面元素组成和涂层后涂层去除(红色)。

清洁后三种表面的比较调查光谱。

图3。清洁后三种表面的比较调查光谱。

收集了Sn三维区域的高分辨率光谱(图4),以进一步检查Sn的存在。主要的5/2跃迁峰位置在486.8 eV,这是典型的Sn4+氧化状态也许是sno2.Na KLL俄歇过渡线也存在。

值得注意的是,在表面上和清洁后发现的整体碳污染程度看起来几乎没有减少。这传转出条带过程不能除去通过暴露于大气吸附的不定碳。

硅晶片清洗后的锡三维区高分辨率光谱。

图4。硅晶片清洗后的锡三维区高分辨率光谱。

结论

带涂层材料清洁是一种很好的技术,用于去除微小的移动颗粒存在于脆弱的表面。涂覆聚合物后,表面残留锡、钠等杂质。

参考和进一步阅读

  1. J. M. Bennett,L. Mattsson,M.P.Seane和L. Karlsson,Appl。选择。,28,5,1989。
  2. J. M. Bennett和D. Ronnow,Appl。选择。,39,16,2000。

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