测量薄涂层的机械性能需要测量与涂层厚度尺寸相似的样品-通常为几微米。
聚焦离子束(FIB)用于特定位置的样品制备,如微压缩测试的柱子。为了得到统计上显著的结果,需要对大量具有相同尺寸的柱子进行测试。准备这样一组相同的柱需要仪器具有高度的稳定性,以确保整个自动化铣削过程的最大重复性。
在不到3小时的时间内制备5 x 5微压柱阵列
新型TESCAN S8000G FIB- sem系统配备高性能Orage™Ga FIB柱,可实现高达100 nA的离子束电流,用于快速磨铣。这使得使用高束电流和优化的束形组合实现了自动化高通量样品制备。
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特斯卡纳美国公司。
TESCAN成立于1991年,由特斯拉的一群管理人员和工程师组成,其电子显微镜的历史始于1950年,如今TESCAN是聚焦离子束工作站、扫描电子显微镜和光学显微镜的全球知名供应商。TESCAN的创新解决方案和与客户的协作性质使其在纳米和微技术领域处于领先地位。该公司很自豪地参与了一系列科学领域的卓越机构的首要研究项目。TESCAN在价值、质量和可靠性方面为客户提供一流的产品。TESCAN USA inc .)的北美手臂TESCAN奥赛控股一家跨国公司合并建立的TESCAN捷克公司,全球领先供应商的sem和聚焦离子束工作站、物理奥赛和法国公司,世界领先的定制的聚焦离子束和电子束技术。
本信息来源、审查和改编自特斯坎提供的材料。欧洲杯足球竞彩
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