ToF二次离子质谱法分析药物配方中的微晶污染

地表化学表征的现代技术在药品分析和开发中起着至关重要的作用。X射线光电子能谱（XPS）和飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是最重要的表面分析方法中的两个，具有以下特点：

x射线光电子能谱

• 定量分析
• 元素和化学状态信息

飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）

• 全面且非常具体的化学信息（元素，聚合物结构，化学群，分子）
• 成像具有高空间分辨率（<200nm）
• 极敏感(痕量检测限)

案例研究:药物配方中的晶体污染

ToF-SIMS用于识别外来晶体物质，该物质在药物溶液中储存后被检测到。仅存在微量的微晶，不适用于整体分析方法。

用细过滤器收集材料，并对过滤器表面的小块微晶进行检测。测量需要最先进的技术，其中RAW数据从一个地区有几个感兴趣的晶体。回顾性分析了空白过滤区和微晶区形成的质谱，并比较了微晶的质谱指纹图谱。

结论

通过回顾性化学绘图，信息得到了改进，它明显地揭示了滤镜顶部的微晶(红色为质谱指纹图谱中的一个峰值)(绿色为滤镜特有的信号)。分析结果表明，一种聚合物添加剂从瓶塞中浸出并进入药物溶液中，然后结晶。

附录

原始数据:扫描样品的指定区域，获得质谱并存储在每个像素点。回顾起来，可以进行以下操作:

• 感兴趣区域(ROI)分析:对于选择的分析区域内的划分区域(任何大小和形状)，可以在每个特定区域内的所有像素点上添加质谱，从而产生特定区域的质谱。
• 成像分析:对于选定的分析区域，可以生成任意光谱峰的化学图(图像)。在非常微弱的信号中，单个峰值强度不足以创建有意义的图像，也可以合并峰值强度，从而提高图像统计量。

制药白纸表面分析暴露假药

Since counterfeit drugs are becoming available more and more (the U.S.-based Centre for Medicines in the Public Interest has estimated that in 2010, counterfeit drug sales is worth US$75 billion worldwide), the technology that is used to make these fake medicines is becoming more advanced.

陶瓷表面和材料分析以及Glaxosm欧洲杯足球竞彩ithkline，通过利用如TOF-SIMS和XPS的方法相比，与真实药物相比，制定了一种用于检测假片的技术。

除了检查组合物的标准方法外，该技术侧重于药物的工艺和制造路径，最终结果是可以检测到药物的预测药物的未检测到的化学副本。