分析表面泛黄药平板电脑与ToF二次离子质谱分析

海湾Yurii /伤风

当代技术的表面化学特性有一个重要的角色在医药产品的研究和发展。

最重要的两个表面分析技术飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)和x射线光电子能谱(XPS)。下面列出了各自的特点:

x射线光电子能谱(XPS)

• 定量分析
• 元素和化学状态信息。

飞行时间二次离子质谱(ToF-SIMS)

• 高的成像空间分辨率(< 200海里)
• 全面、高度特定的化学信息(化学组、元素、分子和聚合物结构)
• 非常敏感(跟踪检测限制)

案例研究

表面泛黄的药物平板在曝光

ToF-SIMS被用来检查黄色变色的白色药平板电脑的问题当他们暴露在光。

数据表明,药物分子的选择性降解发生在乙酸组更改为一个醛基(质量差= 30)。由此发展而来的一种新的分子(Mdeg)和大量的30不到原始分子(Mdrug),其中M等于分子质量。

耦合的醛基与芳环的转变引起的光吸收紫外区域的电磁波谱,至少部分,可见光谱的蓝色区域,导致黄变色。

制药白色Paper-Surface分析揭露假药

因为假药越来越可用(美国公共利益中心药品预计,假药销售价值将在2010年估计全世界有750亿美元),该技术用于生产这些假冒药品正变得越来越先进。

陶瓷表面和材料分析,与葛兰素史克公司欧洲杯足球竞彩合作,创建了一个技术识别假的平板电脑,与真正的药物相比,通过使用ToF-SIMS和XPS等方法。

参照标准技术分析成分,这种方法侧重于过程和药物的制造方法,其结果是,早些时候察觉化学药品能被探测到的副本。