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XRF分析仪通常配备两种类型的检测器:比例计数器或半导体检测器。硅漂移探测器，也称为SDD，被广泛认为是最有效的半导体器件。
当分析器包含比例计数器时，许多客户都对分析器的性能感到满意。在特殊应用中，比例计数器是工作的最佳选择。
值得注意的是，sdd可用是有原因的，它们确实比传统的比例计数器技术提供了好处。以下是其中几个优点:
在一次扫描中分析多个元素，加快分析时间
为了识别特定的元素，可能需要一个辅助筛选器正比计数器用于分析含有一种以上元素的样品。
由于滤光片抑制了其他元素发出的x射线信号，从而使检测变得更加精确。
如果还需要其他元素的结果，为了获得完整的成分分析，在测量期间可能需要几个过滤器。
由于SDD同时查看所有元素，因此需要更少的扫描，总测量时间也减少了。
较少的调整需要保持结果的准确性
一般来说，比例计数器是惰性气体的圆柱体，遇x射线辐射会电离。这种气体的特征随大气温度而改变。
如果仪器所处位置的大气条件在一天中变化很大，用户将需要多次重新验证或重新标准化仪器，以验证结果的准确性。
大多数道具计数器自动执行这一功能。由于sdd不受大气条件的影响，它们非常稳定，通常提供的结果更具有可重复性。
如果是复杂的，更容易衡量你的样品的实际组成
随着样品中元素的不同，光谱变得越来越复杂。SDD在元素之间提供更高的分辨率，特别是当它们在光谱中彼此接近时。
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上面的图表显示了这一点。红色的峰表示SDD光谱，绿色的区域表示带有比例计数器的相同样品的光谱。
从图中可以看出，使用SDD可以更容易地识别和测量样品中镍、锌和铁的实际成分。
更低的检测水平意味着SDD仪器覆盖更多的应用
当进行测量时，辐射本底水平无处不在。对于SDD来说，这些背景级别通常不那么重要。这使得仪器更容易从背景辐射中确定合适的信号。
如果应用程序需要检测PPM范围内的污染物或微量元素，这将成为一个重大挑战。对于比例计数器，当元素存在时，背景的变化可以创建一个非检测读数。
SDDs内的现代电子学能够处理非常高的计数率(探测器从样品中获得和处理次级x射线光子的速率)。
这极大地提高了整体性能，从而导致更高的精度，更低的检测限和有效的测量时间。
道具计数器vs SDD:头对头挑战
现在将比较两种不同仪器的实际测量结果;带比例计数器的x3500实验室和LAB-X5000SDD。
该测试是为了调查在一个石灰石样品中存在的六种不同的分析物:铁、钙、钾、硅、铝和镁。比例计数器总共使用6.6分钟和四个条件序列来测量所有六个元素。
SDD分析样品中相同元素只需要3分钟。在本例中，LAB-X5000的效率是Lab-X3500的两倍。将比例计数器分析时间与SDD进行比较，结果与日立的一般结论一致。
什么时候应该考虑使用SDD仪器?
当基于比例计数器的分析仪是正解时，有几个基本的应用。对于那些拥有大容量设备的公司，当前的XRF测量在生产中造成了瓶颈，应该仔细考虑升级SDD仪器。
对于那些需要较低的检测限来识别不稳定或微量元素的人来说，发现基于固态硅烷的仪器可以提供什么将是非常有益的。
对于在元素周期表中测量的元素彼此距离较近的应用程序，也应该考虑升级，这需要一个优化的分辨率，以更加信任结果。
日立公司将推荐查看功能LAB-X5000适用于目前使用Lab-X3500或其他比例计数器仪器的客户。
除了SDD提供的增强性能外，它还具有进一步的特性，使其能够提供更好的结果，这可能会降低分析的成本。
在某些特殊应用中，它可以分析轻元素而不需要氦气吹扫。它还提供使用Wi-Fi到ExTOPE Connect云的即时数据导出，以进行动态数据管理。
这些信息已经从日立高科技分析科学提供的材料中获得，审查和改编。欧洲杯足球竞彩欧洲杯线上买球
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