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俄歇电子能谱学在薄膜的应用

创始人在这次采访中,兰迪Dellwo RBD仪器,谈判对自己的系列产品,包括AZoM microCMA紧凑钻分析仪。

请告诉我们关于RBD仪器和工作你会怎么做?

RBD仪器30年前开始提供服务和部分老表面分析x射线光电子和俄歇电子光谱仪。在过去的10年中,RBD开发了新产品与水蒸气解吸、离子溅射、电流测量和光谱。

俄歇电子能谱学是什么?

俄歇电子能谱(AES)是一种最surface-sensitive元素分析技术。用细聚焦电子束激发样品表面,导致电子与特定于元素的动能释放。俄歇电子谱仪测量这些电子的动能和可量化的结果。AES的元素分析是非常有用的金属和半导体和绝缘样品但不工作。

microCMA紧凑钻Analyzer是一个负担得起的,surface-sensitive分析工具,可以适用于现有的真空室。本产品与其他工具相比如何?在市场上有差距吗?

当俄歇电子光谱仪开始商用在1960年代,他们很简单的工具,提供样品的表面的基本元素组成。多年来改进了当今最先进的高分辨率扫描俄歇系统能够提供元素在非常高的放大图像的特性。然而,今天的先进的扫描俄歇系统也可以花费超过1000000美元。有缺口的市场研究人员想要一种可行的方法来获得原位固定元素样品的信息。许多真空室有一个额外的未使用的端口,通过设计microCMA以适应2.75/ 70毫米法兰,这种差距现在可以填满。

请告诉我们关于microCMA的特点和优点。你为什么那么小吗?这意味着信号小吗?

microCMA是交钥匙俄歇电子谱仪系统,可以提供数据原位顶部几层的样品。自动化操作电子枪和定量数据操作有助于使样品分析简单。我们设计microCMA在小的形式因素,以便它可以安装在现有的房间,而且对研究人员正在设计新的钱伯斯为特定的实验。因为microCMA远小于传统的CMA(柱面镜分析仪),真空室和相关真空泵也会小得多。小室和水泵转化为更快的泵送时间和降低拥有成本。因为设计是基于二阶聚焦42.3度,microCMA信噪比,堪比大得多的服务安装十大“法兰。相同的42.3度电子microCMA收集的,只是在近距离样本。

应用程序将受益于microCMA及其尺寸?如何?

的一个应用程序,我们看到受益于microCMA MBE是原位分析(分子束外延)系统。系统MBE薄膜材料生长在特高压和研究人员常常需要知道样品的元素欧洲杯足球竞彩组成,看看他们实际上是不断增长的,或简单地看看多少氧气层之间表面上的口供。“肾上腺脑白质退化症”(原子层沉积)系统生长薄层,也可以受益于原位分析。能够分析样品原位防止样品被污染时空气中转移到另一个分析工具。

RBD microCMA简短的视频演示

你需要一个离轴电子枪吗?

microCMA包括一个内置的同轴3 kV电子枪,极大地简化了CMA样品的一致性。电子枪是最大的挑战之一设计microCMA因为面积的小几何只允许你的小指大小的电子枪坐在。这样一个体积小、灭弧、脱气和热稳定性都是至关重要的。软件例程,自动除气和加热丝,导致一个易用和稳定的电子枪。

microCMA有何影响薄膜的应用程序?

microCMA已经影响薄膜的发展提供一个相对廉价的方式,添加一个原位表面分析技术现有的真空室。工具,研究人员越多,越快可以研究和开发新材料。欧洲杯足球竞彩

告诉我们在半导体和金属microCMA将如何工作。

microCMA作品半导体和金属元素分析的很好。用来激发样品的电子束产生少量的热量,这些热量可以样品表面造成破坏。半导体和金属能够吸收热量以最小的样品损失。陶瓷和玻璃等隔热样品通常不适合AES分析因为样品不导电和电子束会导致充电峰值变化。样品如聚合物也不适合AES由于电子束将破坏样品即使在非常低的电流。因此,薄膜组成的金属和半导体的理想候选AES分析。

什么是在商店的未来microCMA吗?有任何新的或即将到来的应用程序将受益于microCMA吗?

即将到来的改善microCMA将集中在CMapp软件程序。新功能将使它更容易操作microCMA和操作数据。

我们的读者在哪里可以去了解更多吗?

请访问我们在RBD microCMA工具https://www.rbdinstruments.com/products/microcma.html

对兰迪Dellwo

兰迪Dellwo开始他的职业生涯在表面分析行业在1970年代期间从图表记录器工具转变为第一计算机系统在物理电子学,俄歇电子能谱学先锋公司。RBD仪器的创始人,在过去的30年里,他指导的支持老φ系统和组件以及新产品的开发与表面分析和材料科学。欧洲杯足球竞彩欧洲杯线上买球

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引用

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  • 美国心理学协会

    RBD仪器公司. .(2019年12月16日)。俄歇电子能谱学在薄膜的应用。AZoM。检索2022年7月5日从//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=18797。

  • MLA

    RBD仪器公司. .“俄歇电子能谱学在薄膜应用程序”。AZoM。2022年7月5日。< //www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=18797 >。

  • 芝加哥

    RBD仪器公司. .“俄歇电子能谱学在薄膜应用程序”。AZoM。//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=18797。(2022年7月5日访问)。

  • 哈佛大学

    RBD仪器公司. .2019年。俄歇电子能谱学在薄膜的应用。AZoM, 05年2022年7月,//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=18797。

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