在生产金属的生产中,铁合金是重要的部件,钢铁和铁冶炼厂是铁合金的领先用户。Ferrosilicon(Fesi)是具有高消耗率的最大利用的铁合金之一。
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目前,“湿化学”是最常见的方法,用于进行精确分析FeSi合金。然而,它具有高劳动力成本并且需要长时间的样品准备时间。
为了分析Fesi合金,X射线荧光(XRF)光谱法是一种理想的替代技术,提供高通量和简单的常规样品制备。
与“湿化学”相比,对Fesi合金的分析XRF光谱法通常测量作为松散粉末或压制颗粒,由于这些品种样品中的强冶金和粒度影响,因此具有精确度的限制。
如果分析样品作为玻璃磁盘,则可以克服这些挑战,从而提高了结果的精度和准确性。截至南大略和Claisse现已开发出一种应用,可用于通过XRF分析铁合金(特别是FESI)玻璃盘。
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