各种尺寸的存储卡通常用作手机、数码相机、录音机等的存储介质。这些卡插入这些设备的插槽中，卡的表面粗糙度会影响插入的平滑度和易用性。
记忆卡。
存储卡的表面粗糙度是决定其商业价值的主要因素，因此它是质量控制（QC）中的一个重要测量标准。当使用常规粗糙度测试仪对存储卡进行QC评估时，可能存在测量限制。传统的测试设备必须与卡的表面接触，通常只测量沿一条运动线的高度（粗糙度）。
奥林巴斯解决方案
这个奥林巴斯雷克斯特™OLS5000三维扫描激光共焦显微镜实现精确的三维轮廓测量，而无需接触正在检查的表面。OLS5000显微镜用户可以应用符合ISO 25178的三维粗糙度参数，获取存储卡表面的清晰、高分辨率图像。
OLS5000显微镜的宽表面评估擅长揭示看似随机的不规则性，并提供传统粗糙度测试仪无法提供的广泛测量信息，而传统粗糙度测试仪只能沿一条直线进行测量。
该系统还集成了一个标准的自动工作台功能，该功能有助于跨多个表面点采集数据，记录测量坐标并使用成像缝合功能。
（1） 样品A（目标：20倍有效视野：640µm）
测量点1–存储卡样本A表面粗糙度评估。
测量点2–存储卡样本A表面粗糙度评估.
测量点3–存储卡样本A表面粗糙度评估.
表1。存储卡样品表面粗糙度测量
| 参数 |
平方米[微米] |
Sa[微米] |
Sz[微米] |
Sku[微米] |
| 第1点 |
3.5 |
2.897 |
26.501 |
2.518 |
| 第2点 |
3.766 |
3.033 |
30.446 |
2.966 |
| 第3点 |
3.626 |
2.955 |
25.5 |
2.741 |
| 平均的 |
3.631 |
2.962 |
27.482 |
2.742 |
| 标准差 |
0.133 |
0.068 |
2.615 |
0.224 |
（2） 样品B（目标：20倍有效视野：640µm）
测量点1–存储卡样本B表面粗糙度评估.
测量点2–存储卡样品B表面粗糙度评估。
测量点3–存储卡样品B表面粗糙度评估。
表2。存储卡样本B表面粗糙度测量
| 参数 |
平方米[微米] |
Sa[微米] |
Sz[微米] |
Sku[微米] |
| 第1点 |
1.608 |
1.259 |
17.946 |
3.833 |
| 第2点 |
1.579 |
1.241 |
18.158 |
3.86 |
| 第3点 |
1.646 |
1.296 |
22.166 |
3.936 |
| 平均的 |
1.611 |
1.265 |
19.423 |
3.876 |
| 标准差 |
0.034 |
0.028 |
2.378 |
0.053 |
用于此应用程序的产品
图片来源：奥林巴斯科学解决方案美洲-工业显微镜
这个奥林巴斯雷克斯特™OLS5000激光扫描共焦显微镜使用户能够轻松进行非接触、无损的三维观察和测量。轻触一个按钮，可以在亚微米级测量精细形状。
这种用户友好性与尖端功能相结合，提供了比前代产品快四倍的采集速度。拥有较大样品的客户可能会受益于LEXT长工作距离目标的使用，以及可容纳高达210 mm样品的扩展框架选项的实施。
本信息来源、审查和改编自奥林巴斯科学解决方案美洲-工业显微镜提供的材料。欧洲杯足球竞彩
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