提高表面粗糙度测量的准确性

依视路美国的研究人员发现，显著的振动噪声限制了他们的Keyence VK-X250 3D激光扫描共聚焦显微镜。振动噪声影响其表面粗糙度测量，导致测量结果不准确。

为了规避这些问题，依视路与赫赞合作，考虑到环境的严重性，为他们的工具找到最佳的解决方案:TS-140主动振动隔离表。

在显微镜下

采用Keyence VK-X250三维激光扫描共聚焦显微镜对铬合金零件进行分析。测量是为了识别重要的表面粗糙度参数，如均方根高度(Rq)和算术平均高度(Ra)。

下面的对比测量图像是由Keyence显微镜拍摄的。这些图像强调了如何使用主动振动控制表，如TS-140，显著提高期望值，导致更高质量的产品和部件被创建。

图片信用：Herzan LLC

研究人员反馈

将Herzan TS-140与Keyence VK-X250共聚焦显微镜集成，显著降低了测量中振动噪声的影响。现在可以测量各种表面粗糙度如均方根高度(Rq)和算术平均高度(Ra)更准确。

Herzan TS-140是我们系统的关键补充，使我们能够确保零件的质量和所产生的产品。

数据可视化

没有TS系列的镀铬部分表面图像。图片信用：Herzan LLC

镀铬部分表面图像与TS系列。图片信用：Herzan LLC

振动隔离可视化

视频资料:Herzan LLC

应用

表面粗糙度测量

最终用户

essilor美国

隔离系统

ts - 140主动振动隔离表

图片信用：Herzan LLC

仪器

Keyence VK-X250 3D激光扫描共聚焦显微镜

这些信息已被源，审查和调整由Herzan LLC提供的材料。欧洲杯足球竞彩

有关此来源的更多信息，请访问Herzan LLC。