支持x射线荧光(XRF)的LIMS

x射线荧光分析(XRF)是公认的快速、无损分析固体和液体分析物元素组成的最古老的技术之一。塑料、金属、陶瓷、玻璃和更多的东西都可以使用XRF进行分析。

本文将重点讨论金属的组成元素及其分析方法光谱仪支持的LIMS实验室信息管理系统)软件。两种不同的案例涉及大量的样本,因此,LIMS软件的支持,将被检查:金属在土壤和古代铜合金中的存在,以显示这个实验室软件的灵活性和可靠性。因此,LIMS软件也是冶金应用领域的工业实验室处理大量数据和样品的一种实用解决方案。

确定XRF程序很重要。XRF分析的一般解释是,在XRF分析中使用的样品被伽马射线或x射线照亮,导致核心级电子激发到激发态(Simon 2018)。

据Koen(2000)说,x射线荧光分析在过去的15年里发展迅速。第二次世界大战结束时,XRF被引入工业实验室。

作为多通道或连续使用,仪器首先基于x射线管投影激发,布拉格反射波长色散光谱分析,计数探测器用于荧光x射线的测量。

这种方法和严格的基体结果是一个校准的基础上的样品参考元素与未知的成分相同。应用领域包括陶瓷,冶金,聚合物工业,岩石,矿物和土壤的分析。

在20世纪70年代,XRF变得越来越多功能,并为基于计算机的分析做好了准备。如今,这种分析方法可以确定粗糙度、密度和层厚。

x射线荧光分析也可以应用于考古领域,显示了大量的数据和样本。x射线荧光分析是研究古铜合金的理想方法与其他元素检测方法相比,具有快速、无损、多元素、高精度、环保等优点.根据Lutz的说法,由于它是一种多元素和非破坏性的方法,它可以在短时间内分析广泛的元素。因此,分光仪的连接可能是困难的LIMS软件是一个直观的解决问题的设备连接和样本和数据评估。

另一个例子是土壤中金属的定量分析。正如dos Anjos(2000)所确定的那样,x射线荧光分析确定了一个分析物中存在的元素数量。

XRF也是一种非常精确和可靠的技术。因此,样品的测定和质量是确定土壤组成中金属存在的必要条件。

XRF分析涉及许多样品被分析、评估和跟踪。使用LIMS的软件,可加快实验室的统计评价,同时提高评价数据的质量。

XRF是一种定性和定量分析,这意味着实验室过程必须以革命性的方式进行验证。LIMS软件提供了一个可靠和灵活的解决方案,允许分析合金的元素,以确定其可变成分。

从XRF分析中获得的大量样品可能会导致混淆。LIMS软件的作用是允许技术人员通过消除那些潜在的错误来获得最可靠的结果。

综上所述,可以确定在有大量数据和样本需要跟踪的情况下,XRF是一种准确的分析方法。因此,为了提高精度、可靠性和成本效益,实验室需要LIMS软件的支持。

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