光学抛光如何有助于提高表面质量
光学抛光是一种专门开发的制造方法，目的是最大程度地减少缺陷和最佳微共线值的数量。抛光过程必须使用通常悬浮在液体中的游离谷物（浆液），而不是像磨一样，而不是被固定在车轮上。该方法可以产生极光滑的表面，粗糙度值低于1Å，这可以显着限制在1 ppm水平以下的散射光，这在传输中使用光学元件或作为改进涂层粘附的有效底物是一个关键方面
高精度的光学组件是用各种材料制成的，例如玻璃，复合材料，陶瓷和金属，仅举几例。欧洲杯足球竞彩对于高性能的光学应用，普遍的光学抛光技术产生了所需标准的表面。
抛光的较高表面表面表面饰面能力已导致对精度光学和机械组件的制造广泛接受。
每个光学制造商都将相对于标准抛光方法有独特的考虑，并具有实现不同目标的专有技术。例如，各种材料的作用将不同，以对比纺锤或膝上欧洲杯足球竞彩速度。因此，需要考虑泥浆流过光学表面的小磨料粒径的一致性。
此外，关于时间如何影响抛光过程的因素；较大粒径的影响；还评估了导致表面划痕或损坏的外部污染。
因此，至关重要的是要密切关注抛光过程各个方面的细节。所有因素，包括处理，电荷，主轴或膝盖速度，浆液中的粒度分布，波兰时间，甚至监测浆液的化学性能都会对表面的最终质量产生重大影响。
当需要一致性以实现超光滑表面时，这可能非常困难
polytecs topmap micro.view®相干扫描干涉仪。图片来源：Polytec
带有顶图的光学3D表面分析。®
这topmap micro.view®是Polytec GmbH的非接触式光学计量工具。它是一种最先进的测量工具，它结合了先进的技术以及能够测量和表征表面，以精确的国际标准和具有出色稳定性的可追溯文物。
质量控制的光学行业的需求很高，对于超成品表面纹理，对3D地形的非接触式检查被认为是必要的。
除了亚纳米敏感的Z分辨率外，这种连贯的扫描干涉仪（CSI）也表现出很高的重复性。除了自动化软件和稳定的硬件平台外，Polytec的Topmap光学介绍师还提供了面形的表面地形表征。
为了测量和表征精确制造的光滑表面，Topmap Micro.View。®完美优化。TOPMAP MICRO.VIEW的所有参数®符合ISO 4288和ISO 25178。
最新的ISO 25178-600中提供了Polytec数据表（和公平数据表）中使用的定义。仪器还遵循ISO 25178-700（面积测量仪器的校准）标准，该描述与Polytec的规格相对应。
表面还可以满足ISO 10110中的光学元素，其中包括具有准确过滤参数的表面纹理测量，可以评估表面缺陷，划痕，芯片和挖掘的测量以及显示的相对数据。
测量示例
测量抛光的银镜面未过滤数据，显示了表面上的精细1 nm处理标记。s一个= 0.29 nm，s问= 0.38 nm。图片来源：Polytec
根据ISO 10110的建议，对抛光的硅表面的测量正确分析。S一个= 0.065 nm，s问= 0.089 nm。图片来源：Polytec
抛光玻璃显示44 nm刮擦损坏。s一个= 2.81 nm，s问= 4.25 nm。图片来源：Polytec
概括
新的topmap micro.view®最适合光抛光应用。该仪器利用最先进的连贯性扫描干涉法，还将证明可以在生产设施中充当关键过程优化工具的功能。所有测量值都可以完全自动化，并且是非接触以限制任何处理错误的。
测量提供：
- 准确和定量的表面表征
- 快速，方便且可选地完全自动化
- 高分辨率，高度可重复和稳定的测量
- 无损 - 不需要样品接触或准备
- 从超级完成到灰色的多种光学材料的作品欧洲杯足球竞彩
此信息已从Polytec提供的材料中采购，审查和调整。欧洲杯足球竞彩
有关此消息来源的更多信息，请访问Polytec。