In this interview, AZoM talks to Thermo Fisher Scientific’s Dr. Tim Nunney and Dr. Adam Bushell, Applications Development & Marketing Manager and Product Marketing Manager for the Surface Analysis product line respectively, about the new Nexsa G2 Surface Analysis System and why it is a stand-out instrument for improving the analysis of surfaces.
是什么使Thermo Scientific™Nexsa™G2 X射线光电子光谱仪（XPS）系统不同？它是如何从先前系统中脱颖而出的？
蒂姆:Nexsa G2是我们自2006年引入K-Alpha仪器以来的下一步。我们生产表面分析仪器已经超过50年了，这一经验使我们认识到XPS仪器最重要的是:分析的信心，性能，使实验快速和容易完成，简单的仪器操作而不影响性能。
通过原始的Nexsa系统，我们采取了这些想法，并将它们应用于多技术仪器，以便XPS可以与UPS，ISS或Reels等其他分析方法进行补充。唯一的情况下，仪器也可以用拉曼光谱仪配置，用于共入入射表面分析和分子光谱。
Nexsa G2进一步提高了XPS系统的性能，同时还增加了样品加热和原位施加电压的新功能。该系统还包括我们最新版本的表面分析软件，优势v6。
亚当:Nexsa可以在单个实验中收集和分析多种表面分析技术，而不仅仅是XPS。虽然我们的客户过去可能一直在收集这种补充数据，但允许他们从样本的同一点进行收集，并以自动化的方式大大减少了获取更全面的样本所需的时间。
最重要的是，我们增加了从地图软件包加载分析点的能力，因此您可以更容易地将XPS分析与显微镜信息进行整理。
您能讨论Nexsa G2 Surface分析系统的一些更新的关键功能吗？
亚当:NEXSA G2系统提供XPS性能的大敏感性提高，特别是对于较小的分析区域。这种增强促进了更快的数据收集，使得访问更高的频谱分辨率，并且允许更好地检测跟踪元素。
还有一些新的特殊样品持有者可用，使用户可以加热或电动修改样品，并立即看到表面化学的效果。
具体而言，NEXSA G2有什么功能有助于改善分析过程？
亚当:分析位置中的样本的专利自上而下视图确实有助于快速找到样品上的正确位置，然后您可以将所有不同的分析技术堆叠到该点的一个实验中。
我发现真正有用的位只是能够从实验树拖到一个处理窗口中的数据，以便我可以监控实验进度并开始并行使用强大的处理工具。
将样品加载到NexSA G2表面分析系统中。
您是否可以详细介绍高性能X射线源以及这款新的低功耗X射线单色器如何改善数据收集？
亚当:我们对产生X射线的区域进行了一些关键调整，这在X射线强度上提供了大的改善。我们使用聚焦的X射线束，因此样品上的照明区域的尺寸直接连接到我们在阳极上产生X射线的位置。由于用户选择通过使用所提供的光学标记来分析它们的样本所需的尺寸，因此我们仅将电源降低到仅照亮该区域，减少能量浪费所需的电源。
蒂姆:有各种方法可以获得XPS数据收集的良好敏感性 - 在X射线源中使用大量功率，确保X射线的有效单色，并通过镜头，分析仪和探测器具有有效的电子收集。我们的理念是保持X射线功率低，因为X射线可以影响样品，并专注于使单色器和透镜系统尽可能良好。
这意味着对石英单色晶体和电子光学元件以及高速电子探测器进行精密工程。正是系统其他方面的创新使我们能够在低x射线功率下实现高计数率。
什么是深度分析以及Nexsa如何在其性能下将此过程纳入其中？
蒂姆:深度剖面是一种用于分析材料表面以外、探测界面或次表面区域化学变化的方法。为了做到这一点，分析与离子束蚀刻周期交错，这样材料就可以从样品中移除，并一层一层地建立化学轮廓。
Nexsa配置有两个离子源中的一个，单原子离子源或MAGCI，单颗粒和气体聚类离子源。两个来源通过软件自动对齐和优化，确保可重复的蚀刻速率，这在运行一系列样本上的一系列实验时至关重要。
NEXSA G2通过其专利的光学观察系统和XPS Snapmap改进了样本观看。为什么这是重要的？
蒂姆:你需要有信心，你在分析你认为你在分析的东西，无论是为了发表，还是为了给你的老板看!通过我们独特的光学系统，操作者拥有与电子光学以及更传统的角度视图完全相同的视图，它非常容易对齐到一个特征上。
该系统还具有两个光源，以确保可以容易地观察到低或高浮雕样本。对于具有光学不能看出的特征的样本，我们具有XPS Snapmap，一种快速XPS成像模式，可用于选择分析位置，或用于表面的分析化学状态成像。
亚当:使用非基于视觉的分析技术，准确地知道您的信息来自于您的样本，总是很重要的，否则您可能会得出错误的结论是什么导致了您所看到的效果。我们经常在“好”和“坏”区域之间寻找微小的变化，所以我们需要确切地知道我们在看哪一点。
我们的专利光学系统可以看到大多数缺陷或特征，但是当我们无法使用SnapMap函数识别出光学的东西时，有助于我们化学识别。从SnapMap，我们可以轻松添加分析点，以确保我们击中正确的位置。
什么是最大样本区域和厚度Nexsa G2可以处理？
蒂姆:Nexsa可以容纳60 × 60毫米的面积和20毫米厚的样品。可以是一个大样本，也可以是很多小样本。经过仔细的安装，可以在样品架上安装几天的工作。
数字控制在仪表控制、数据处理和报告方面非常有用。您能给我们介绍一下Nexsa的数字控制是如何整合这些功能并简化效率和用户控制的吗?
亚当:我们的优势软件提供仪器控制，数据收集和数据处理所有在一个包，这允许容易地构建实验，以匹配所需的数据输出，并结合不同的分析技术，只需将该技术添加到树。
对于数据收集，我们已经包括最常用的项目。充电补偿作为实验对象中的复选框或设置，并提供默认值为指导，可以通过单击光显示来添加分析点。
进行数据分析,完成分析可以说是更复杂的一面,我们有一系列数据还原工具,如主成分分析可以用来挑选信号在一个多层次的数据集,以及我们的XPS知识视图,可以打开单独或从数据感兴趣的地区。
NexSA G2系统集成了Sys，UPS，REELS和RAMAN等多种分析技术。在一个系统上组合所有这些特色的好处是什么？
蒂姆:它痛苦地说，但有时你无法获得XPS所需的所有信息。
通过获得额外的仪器分析技术,您可以获得的信息量的增加,这会导致更好地了解拉曼的情况下,分子结构的电子结构使用卷和UPS或元素组成在空间站外表面的原子层。
该技术是互补的，并使分析师能够建立在调查中更完整的材料图片。
亚当:另一个主要福利在不同仪器中，不必反复找到样品上的同一点，这是一个可能在一些样本上非常棘手的时间浪费的任务，并且最好避免。
我们也获得了能够使用所有的分析技术,去除材料,比如深度剖面中我们可以即刻把顶面元素覆盖XPS数据档案,每一点的东西需要几小时甚至几天如果每个测量系统之间转移,随着风险的增加，样品表面会在两者之间发生变化。
基于聚合物的食品包装。图像信用：Aumm GraphixPhoto / Shutterstock.com
描述Nexsa G2表面分析系统如何用于多个研究领域（例如，电池，金属，聚合物，纤维和地质研究）。
蒂姆:表面和界面的相互作用，无论是它们在与它们相邻的下一个材料的接口的环境中，都定义了性能和适用性。
对于电池来说，这可以确定电极在充电和放电时的表面化学变化;对于聚合物来说，这可能是有机发光二极管的层结构或构成食品包装薄膜的聚合物梯度。
你看到的每一个地方都有需要了解表面化学才能回答的问题，而Nexsa G2的设计流程很容易适应这一过程。
通过与世界各地的研究人员交谈，我们了解到，让系统易于操作，而不牺牲其灵活性或性能将意味着科学家可以集中精力理解数据，而不是花时间定制系统以实现特定的结果。
如果你能用几个形容词来描述Nexsa和它的价值，你会用哪些形容词?
蒂姆:灵活，直观，强大，快速！
亚当:先进，可靠，精确，用户友好。
了解有关Thermo Fisher Scientific网站的Nexsa G2表面分析系统的更多信息
关于Tim Nunney博士
Tim Nunney博士是热科学表面分析（X射线光电子能谱）产品系列的应用程序开发和营销经理。他的角色涉及产品营销的所有方面，包括管理申请团队，客户评估，产品开发和商业支持。
他自2004年以来一直任职于赛默飞世尔科学公司(Thermo Fisher Scientific)，此前担任应用科学家和运营部门的职务。在加入赛莫费雪科学公司之前，Tim在南安普顿大学担任博士后研究员，研究金属表面分子离解动力学。他在利物浦大学获得表面科学博士学位，在利物浦大学获得表面科学和催欧洲杯线上买球化硕士学位，在诺丁汉大学获得化学(荣誉)学士学位。
关于亚当·布谢尔博士
Adam Bushell博士是赛默飞世尔科学公司表面分析产品的产品营销经理，将客户需求与新技术和现有技术联系起来，为市场定义新产品开发。自2004年加入公司以来，他曾在市场营销和研发部门担任多种职务。亚当在英国威尔士的阿伯里斯威斯大学获得了物理硕士和表面科学博士学位。欧洲杯线上买球
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