扫描电子显微镜的成功样品制备(SEM):指导

扫描电子显微镜使用电子束而不是光束,使我们能够看到低于传统光学显微镜衍射极限的纳米级图像结构。

然而,电子显微镜的重要警告是样品必须暴露于恶劣的条件。

虽然光很容易通过空气传播,但电子却不能。因此,为了使用扫描电子显微镜(SEM),它必须暴露在硬真空中。

此外,考虑到成像依赖于显微镜和样品之间的电子转移,如果不先将非导电样品涂覆在导电层中,则对其成像可能很复杂,甚至不可能。

虽然SEM样品制备可能很复杂,但正确和仔细地进行是至关重要的,以创建有意义和详细的图像。本指南提供了SEM样品制备的实用大纲,范围从样品收集到成像点。

收集样本

扫描电镜成像的第一步,实际上是所有类型的显微镜,是进行样品收集。

这里有一些典型的规则。当然,有必要确保所选样本代表相关表面、散装材料或总体。

鼓励在样品采集前后拍照,以确保记录样品在自然状态下的外观。

样品收集的另一个重要方面涉及用于运输和储存样品的容器;它们的选择和处理方式必须保证样品不受损害。

样品准备被称为“清洁”过程,简单地说,这意味着从样品收集开始的每个阶段都应该戴手套。

确定所需准备的水平

SEM样品制备的两个主要决定因素是样品的水分含量和硬度。

这些元素紧密联系在一起也就不足为奇了:例如,硬样品通常是干的(例如,复合材料或纳米线样品),欧洲杯足球竞彩1,2而软样品往往含水量较高(例如,细胞培养或生物样品)。3.

脱水和固定

软物质样本,如活细胞、小生物体和组织,在成像前需要固定和脱水。相反,干燥、坚硬的样品不需要太多的处理,而且相对容易成像。

固定是指对样品进行化学处理以保持和稳定其结构的术语。

固定通常通过使用缓冲化学固定剂,如戊二醛、甲醛或单宁酸孵育进行;随后通常使用四氧化锇进行固定。4.跳过这个固定过程将自然导致样品在脱水阶段损坏。

样品固定后可进行漂洗和脱水。如果样品中含有水分,则必须进行脱水:当暴露在显微镜内的高真空条件下时,所有样品必须是无水分的。5.

虽然使用风干或化学脱水是快速的,但它不一定能提供最好的结果。事实上,这样的技术可能会影响样本的完整性,并有损害的风险,特别是在使用HMDS(六甲基二硅氮烷)等化学物质的化学导致的快速脱水情况下。

临界点干燥(CPD)或冷冻干燥通常用于获得高质量的结果-这两种命名的过程都通过绕过突然的液相-气相转变来防止样品损坏。

临界点干燥(也称为超临界干燥)是一种高温、高压的过程,它允许液体平稳地转变为气体,而不经过突然的相边界。6.

液体和气体之间的表面张力,在临界点,是零-因此液体可以从样品中去除而不破坏他们。

在将水放入CPD机器之前,通常先用乙醇或丙酮(通过以一系列浓度增加的溶剂浸泡样品)替换水,因为水在其临界点处温度较高,且不易与液态CO混溶2.

比较容易使样品干燥并保持其CO的自然外观2.具有较低的临界点(31.0°C)。

冷冻干燥是一个不那么复杂的过程。冻干只需将给定的样品放入冻干机中即可完成。在这台机器里,水首先被冻结,然后从固相升华为气相。

采用冷冻干燥法和CPD法得到不同的结果。虽然CPD被认为对高达5000x放大倍数的样品有效,但在此放大倍数之外,通常可以看到明显的结构损伤。

考虑到液态CO2.是一种强溶剂,一些样品也可能被CPD中涉及的化学物质部分溶解。因此,这就禁止了CPD的使用,因为CPD在CO中是高度溶解的2.

但是,需要注意的是,冷冻干燥不会导致样品溶解,通常可以使用更高的放大倍数。当然,通常情况下,冷冻干燥会产生崩塌和聚集等分子伪影,可溶元素可以在样品中重新定位。

重要的是,样品在干燥后立即移动到干燥储存,以防止环境湿度的积累。

曝光、清洁和抛光

当涉及到显示成像所需的表面时,有三大类方法。这些措施如下:

  • 可通过机械作用或电解过程(如电解抛光)执行的操作,如破裂、切割和抛光
  • 机械稀释或气体传播颗粒磨损
  • 化学和物理处理等化学变薄,化学抛光,等离子体蚀刻或聚焦离子束(FIB)。等离子体蚀刻和FiB在显微镜本身内原位进行。

像这样的成像方式需要非常光滑的表面能量色散x射线光谱(EDS)-这意味着抛光至关重要。

相反,普通扫描电镜(SEM)不需要抛光,因为它是用来探测形貌的。使用的放大倍数、成像的特征类型以及样品本身的特性决定了使用哪种技术。

氮气鼓风机或鼓风机可以是去除样品灰尘的有效方法。不建议使用“罐装空气”或“空气除尘器”进行SEM制备。这类产品可能会损害样本,因为它们通常含有其他化学物质。

越来越多的

安装样品时,确保短棒和样品顶部之间形成导电接触是关键。因此,如下图所示,当使用粘合剂时,必须使用足够的粘合剂,以使连续涂层能够在样品和短棒之间桥接。



图片来源:Quorum Technologies Ltd

尽管碳纳瓦和碳胶带提供了高达100,000倍的倍率,但它们会产生在SEM环境中产生除气或爬行的风险。由于这些原因,不建议使用它们的使用来进行更高的放大率。采取此预防措施确保防止样品顶部的电荷累积。

通常,对于粉末,使用单用刷子将少量材料施加到一块碳带中足够。一刷通常足够,并且可以使用光学显微镜检查沉积在带上的材料的量。

纳米粒子应欧洲杯猜球平台首先使用适当的溶剂溶解(如乙醇或异丙醇)。建议您使用碳水泥将硅片安装到存根上,然后彻底清洁它。需要3-5微升的溶液液滴来提供良好的样品分散。

涂层

最后,在扫描电镜中拍摄图像之前的最后一个阶段是涂层。通常,现代显微镜制造商声称,由于现代显微镜的电荷补偿机制和低电压,SEM成像不需要涂层。然而,这一建议应该经过仔细审查。

即使在低电压下充电也会降低图像质量,尽管与老型号相比,现代显微镜的充电问题更小。例如,下面的图片显示了极端的充电文物,即使它是在只有1kev的情况下捕获的。

扫描电子显微镜的成功样品制备(SEM):指导

图片来源:Quorum Technologies Ltd

为了确保没有电荷能“逃逸”样品(而不是积累和造成图像失真),涂层是必不可少的。然而,这只是涂层提供的众多优势之一。

由于金属涂层的存在,信号可以被定位到样品的表面。这提供了关于表面的更详细的信息,同时提高了信噪比,二次电子发射和图像对比度。

扫描电子显微镜的成功样品制备(SEM):指导

图片来源:Quorum Technologies Ltd

此外,涂层可以降低污染的风险。污染在扫描电镜中有两个方面。首先,它会降低图像质量,其次,它也会逃离样品,导致显微镜本身的损坏。

样品的直接涂层将显微镜污染的风险降至最低,因为它在提高图像质量的同时有效地“密封”了样品。

涂层的另一个有效用途是,由于其局部热,它可以有效地减少光束损伤。在这种情况下,由于金属涂层的导热性确保热量可以从目标位置流出,因此在一个位置可以实现持续观察。

当然,这对于可能被高温损坏或蒸发的敏感生物样品具有特殊的用途。

选择涂层

当涉及到SEM涂层时,有许多不同的合适的材料可供选择,这往往取决于所需的放大倍数。欧洲杯足球竞彩当涂层在相同的条件下,不同的金属有不同的晶粒尺寸——当成像小的特征时,只有小的晶粒尺寸是合适的。

铱、钨或铂是拍摄纳米级物体的关键元素。铬、金和银也适用于较小的放大率。

铬、钯和碳最适合于背散射电子(BSE)成像。如果EDS更好,碳是明显的选择,但是钨和金也是很好的选择。这里的关键步骤是使用一种材料进行涂层,该材料的峰值距离研究所检测的元素很远。

Quorum Technologies的SEM涂层机

当使用SEM进行成像时,Quorum明白适当的样品制备方法会产生所有的差异。法定人数的Q加系列涂层机提供了世界一流的涂料标准,但避免了大型制造商的萎缩成本。

氧化型涡轮分子泵浦涂布器可以氧化和非氧化金属,同时它们的旋转泵浦的低成本溅射涂料适用于非氧化金属。

Q Plus系列可用于SEM、FE-SEM和TEM应用的溅射涂层和蒸发碳涂层。

参考

  1. 纤维增强聚合物纳米复合材料| IntechOpen的扫描电镜研究。https://www.intechopen.com/books/scanning-electron-microscopy/scanning-electron-microscopy-study-of-fiber-reinforced-polymeric-nanocomposites
  2. Zarraoa, L. González, m.u & Paulo, Á。通过极低电压扫描电子显微镜成像低维纳米结构:超浅形貌和深度可调材料对比度。Sci代表9, 16263 (2019).
  3. 六甲基二硅氮烷干燥细胞的SEM、AFM和TEM:肝内皮细胞的研究。显微镜杂志186,84-7(1997)。
  4. 霍斯,C。植物细胞的电子显微镜.(学术出版社,2012年)。
  5. Stadtländer, c.t.k - h。电子显微镜下生物组织加工中的脱水和复水问题。微指令。今天13,32-35(2005)。
  6. Tsotsas,E.&Mujumdar,A. S.现代干燥技术,卷3:产品质量和配方.(John Wiley&Sons,2011)。

这些信息已被源,审查和调整了Quorum Technologies Ltd.提供的材料欧洲杯足球竞彩

有关此来源的更多信息,请访问Quorum技术有限公司。

引用

请在你的文章、论文或报告中使用下列格式之一来引用这篇文章:

  • APA

    Quorum Technologies Ltd.(9月28日2021年)。扫描电子显微镜(SEM)的成功样品制备(SEM):指导。Azom。在2021年9月28日从//www.wireless-io.com/artice.aspx?articled=20764中检索。

  • MLA

    Quorum Technologies Ltd.“扫描电子显微镜(SEM)的成功样品制备:指南”。氮杂.2021年9月28日。< //www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=20764 >。

  • 芝加哥

    Quorum Technologies Ltd.“扫描电子显微镜(SEM)的成功样品制备:指南”。Azom。//www.wireless-io.com/article.aspx?articleId=20764。(访问了2021年9月28日)。

  • 哈佛大学

    Quorum Technologies Ltd. 2021。扫描电子显微镜的成功样品制备(SEM):指导. 亚速姆,2021年9月28日查看,//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=20764.

问一个问题

关于这篇文章,你有什么问题想问吗?

留下你的反馈
提交