有许多不同类型的光谱仪分析程序,所有这些都可以在各种各样的配置,为客户提供一个广泛的选项可供选择:探测器类型、光学式、自动化甚至台式或手提仪器之间。
有测量时出现的几个挑战电子涂料使用光谱仪和选择最佳的配置的快速和可靠的测量在生产环境中。应该小心在选择合适的分析器手头的任务。
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形式:手持或台式光谱仪吗?
如今,手提和台式仪器能够测量金属涂层的厚度在0.001 - 50之间μmμin(0.05 - 2000)在几乎所有类型的衬底。这两种配置的关键因素分离是实用性的性能。
假设你是测量非常大的组件比较大面积的镀可以很容易被眼睛(这很容易保持手的工具)。在这种情况下,一个手持工具非常适合这个任务。
然而,许多电子元件不符合这一描述。功能可能非常小,需要用显微镜和小说而利用精密阶段和专业光学相机安排确保被分析的功能是正确的。因此,对于电子、台式是最有意义的形式因素。
简而言之,最终的决定性因素是部分的大小和具体特性被测量的大小。
如果部分很容易被带到实验室,然后手持乐器是正确的选择。如果面积小于1毫米的评价,然后需要一个台式仪器。
孔径类型:准直器或毛细管光学吗?
仪表指示的孔径和生成x射线聚焦在样品表面。结果发现必须小于被测特性,以及光学特性的大小将决定。
光谱仪的仪器通常有两种类型的孔:准直仪或毛细管光学。
准直器由一个金属块有一个洞。x射线的一部分信号穿过孔的样品。这是一个很好的选择测量100µm和较大的特征。
毛细管光学利用特殊的玻璃管,整理几乎所有x光信号和专注一个极小点。这允许客户低于50µm测量特性。这项技术还提供了增强的精度在薄涂层作为一个大比例的使用x射线与准直器配置。
最终的决定性因素是光斑大小。不到50µm为特性,需要毛细管光学,而对于较大的特性,是理想准直器设置。
探测器类型:正比计数器或硅漂移探测器?
有两个主要类型的探测器在光谱仪仪器:正比计数器和是从汤姆斯探测器——最常见的是从汤姆斯探测器硅漂移探测器(SDD)。会很难决定哪些是最好的为目标应用程序在不同情况下两种技术都提供不同的优势。
正比计数器圆柱体的惰性气体电离时x射线淹了。他们提供特别的敏感度等高能元素锡、银和非常有效的一个基本的分析,只有少数元素存在。
sdd半导体器件,生成一个特定数量的电荷,当x射线淹了。当他们提供更高的分辨率存在感兴趣的几个元素在样品或当识别低能量元素,如磷。
下图列出了不同输出正比计数器和SDD相同的样本。红色的山峰展览SDD输出;灰色的光谱来自个人电脑。
的决定性因素不是一样简单的认为,但是如果你需要测量多个元素或非常薄的或复杂的涂料,然后SDD是更好的选择。
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