横断面标本准备透射电子显微镜(TEM)

亥姆霍兹中心原材料和能源在柏林,德国(HZB,最初欧洲杯足球竞彩被称为Hahn-Meitner研究所HMI)已经开发了一个新的技术的横截面样品制备透射电子显微镜(TEM)。

这个新的制备方法,主要是应用于薄膜太阳能电池设备的栈,包括机械和氩离子抛光(Ar)的横截面样品制作通过面对面的解决两个薄膜与环氧树脂胶栈。

t是一个有用的实现采用机械抛光的横截面样品。这个工具,介绍了h . 1998年藏1——类似于更广泛的三脚架。2

进一步发展和完善了t彼得Schubert-Bischoff HMI / HZB和已经被利用在全球范围内广泛的实验室。图1显示了t (HMI风格)附带一个玻璃量筒。

机械抛光过程看到了横截面样本被研磨钻石衬托使用不同大小的金刚石颗粒。欧洲杯猜球平台稳定金属环然后粘在抛光样品,和碳纤维被放置在整个截面的界面区域(图1 b)。

)摄影在人机界面开发的t / HZB,附带一个玻璃量筒,上面的样品是给用热蜡。b)光显微图内莫支撑环的一部分,显示界面区域(黑色竖线中间的图像)的玻璃基板薄膜栈,以及碳纤维粘在界面区域的横截面。

图1所示。)摄影在人机界面开发的t / HZB,附带一个玻璃量筒,上面的样品是给用热蜡。b)光显微图内莫支撑环的一部分,显示界面区域(黑色竖线中间的图像)的玻璃基板薄膜栈,以及碳纤维粘在界面区域的横截面。图片来源:Gatan Inc .)

这些碳纤维作为离子光束在屏幕的氩离子铣一步制备过程,允许碳纤维之间的地区优先研磨。

使用这种方法的结果在几个位置的一代样品对电子束透明(图2,红色椭圆)。

样本可以多次氩离子抛光,最大化的立场,TEM分析可以为每个样本。

作为一个TEM研究通常试图分析样品中一个特定位置,pip值II系统的X, Y阶段允许将Ar梁对齐到一个感兴趣的区域。这允许碳纤维之间的个别地区有效研磨(图2 b)。

)摄影的横截面样品离子研磨后使用广泛的基于“增大化现实”技术的离子束,导致碳纤维之间的几个洞。b) Ar梁的果核II系统允许对齐,这样孔形式只在一个小地区的利益。

图2。)摄影的横截面样品离子研磨后使用广泛的基于“增大化现实”技术的离子束,导致碳纤维之间的几个洞。b) Ar梁的果核II系统允许对齐,这样孔形式只在一个小地区的利益。图片来源:Gatan Inc .)

这种改进的样品制备方法采用横截面样品制备的氧化锌/ cd /铜(,Ga)2/ Mo玻璃薄膜太阳能电池。

当使用这种材料系统,高水准的样品制备是必要的,以适应机械不稳定之间的接口钼和铜(Ga), Se2

随着铜离子铣的(,Ga)2经常不一致,铜团聚体(图3,红圈)可能对样品表面的形式。3液体的应用N2在氩离子铣pip值II系统(图3 b)可以显著降低这些聚集的发生。这导致了工作温度为-40°C。

)具有亮TEM图像的氧化锌/ cd /铜(,Ga) Se2 /钼太阳能电池堆栈。铜聚集在铜(Ga) Se2表面被红圈突出显示。b)没有铜附聚物上可见标本准备使用优化的基于“增大化现实”技术的离子束参数和液态氮气冷却pip值II系统。

图3。)具有亮TEM图像的氧化锌/ cd /铜(,Ga)2/ Mo太阳能电池堆栈。铜聚集在铜(Ga)2由红圈表面突出显示。b)没有铜附聚物上可见标本准备使用优化的基于“增大化现实”技术的离子束参数和液体N2果核II系统冷却。图片来源:Gatan Inc .)

使用优化参数和样品制备技术已被证明使氧化锌/ cd /铜的结构性质(,Ga)2/ Mo太阳能电池堆栈的个人层及其接口,在高分辨率分析(图4)。

亮场(a) (b)和高分辨率透射电镜图像的氧化锌/ cd /铜(,Ga) Se2堆栈准备使用液态氮气冷却的pip值在氩离子铣II系统。结构属性等扩展缺陷和取向之间的关系cd和铜(,Ga) Se2层可以在事实上规模进行分析。我

图4。亮场(a) (b)和高分辨率透射电镜图像的氧化锌/ cd /铜(,Ga)2堆栈准备使用液体N2冷却的pip值在氩离子铣II系统。结构属性等扩展缺陷和取向之间的关系cd和铜(,Ga)2层可以在事实上规模进行分析。图片来源:Gatan Inc .)

引用

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确认

从材料最初由丹尼尔•Abou欧洲杯足球竞彩-Ras Ulrike Bloeck,和彼得·舒伯特,比肖夫亥姆霍兹中心的材料和能源,柏林。

这些信息已经采购,审核并改编自Gatan Inc .提供的材料欧洲杯足球竞彩

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    Gatan Inc . .(2022年11月28日)。横断面标本为透射电子显微镜(TEM)做准备。AZoM。检索2023年1月26日,来自//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=21198。

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  • 芝加哥

    Gatan Inc . .“横截面样品制备透射电子显微镜(TEM)”。AZoM。//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=21198。(1月26日访问,2023)。

  • 哈佛大学

    Gatan Inc . .2022年。横断面标本准备透射电子显微镜(TEM)。AZoM,认为2023年1月26日,//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=21198。

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