如何增加探测卡活动区域

卡梅隆·哈克（Cameron Harker）和约汉斯·德斯塔（Yohannes Desta）博士最近在SWTEST 2021会议上演讲。他们的演示文稿 - 扩大大面积阵列的挑战，以供精美的音高垂直探针卡 - 授予了会议的最佳数据介绍。

图片来源：FRT计量学

半导体制造商正在执行不懈的任务，以降低测试的总成本。降低测试成本的一个重要因素是增加对正在测试的设备的模拟，这需要随后增加该设备探测卡活动区域。

FormFactor一直致力于开发新的探针卡体系结构，以应对良好的音高，高CCC和高温范围的复杂性，以应用线键探测。

汽车半导体市场是一个领导这种新探测卡体系结构吸收的行业。预计汽车IC市场将在2021年增长到约400亿美元，预计在2021 - 2025年之间的复合年增长率为16.8％。

如果考虑到由于大流行的影响而增加的需求和芯片短缺，那么这种新的探针卡体系结构的时机非常好。

新的探针卡体系结构地址的汽车半导体测试的挑战包括：

• 汽车供应商正在推动降低的成本保持竞争力
• 垫下的密集设备电路
• 设备可以对CRE和CRES变化敏感
• 垫俯仰继续缩小
• 垫子尺寸正在减小以支撑模具尺寸收缩
• 结构通常是用于电线键应用的外围垫
• 极端测试温度继续升高

为了确保满足这些挑战并增强探针卡活动区域，FormFactor设计新的探测卡体系结构 - 大区域阵列（LAA）。有关这种新体系结构及其如何满足汽车IC市场需求不断增长的信息的更多信息，在这里下载演示文稿（PDF）。

此信息已从FRT Metrology提供的材料中采购，审查和调整。欧洲杯足球竞彩

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