为了确保遵守工业质量标准和规格，半导体测试至关重要。由于不可避免的制造缺陷，必须进行测试以确保无故障的半导体芯片。本文涵盖了半导体测试，设备，工作原理和市场趋势的基础知识。2020欧洲杯下注官网

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半导体IC测试

在标准化的芯片制造过程中，进行集成电路（IC）测试会反复检查芯片后制造的芯片。IC测试始于在解剖蚀刻的晶片并将其变成预包装的芯片之前，始于晶圆渗透。当今程序中的许多缺陷只能通过测试结果识别和隔离。测试是控制收产时间，上市时间和质量时间的大门。

布尔测试人员，内存测试仪和模拟测试仪是测试仪掉入的三个广泛类别。这些测试包括晶圆检查和包装测试。在测试晶圆时，会使用专业人士和传感器芯片；在包装检查期间，使用控制器，测试套接字和测试仪。

IC测试的类型

集成的半导体电路测试广泛分为三种类型：功能测试，结构测试和参数测试。

在功能测试期间，将芯片放在其打算执行的所有多个操作功能中。结构性测试使该产品通过一项活动，该活动将突出由于制造错误而可能存在的任何缺陷。特定参数，包括电流和电压水平，将通过参数测试确定。为了确定设备的特定电子特性，请执行参数测试。

自动测试设备简介（ATE）2020欧洲杯下注官网

自动测试设备（ATE）是一种测2020欧洲杯下注官网试工具，用于同时在一个或多个设备上运行一个测试或一系列测试。半导体，设备和电子设备的测试是许多Ate测试仪应用程序2020欧洲杯下注官网之一。

可以将ATE系统可视化为包含由PC或工作站管理的极其复杂的电子计量和刺激设备的盒子。该处理器调节将数据传输到设备以进行配置和刺激信号的产生。2020欧洲杯下注官网此外，它收集并评估ATE系统硬件记录和评估的信息。

不同的组件如何在Ate中起作用？

硬件，软件，测试工具，信号生成器和测试探针或处理程序是自动测试系统的五个基本部分。

在ATE字段中，调节刺激和统计数据的数据流的软件被称为“测试程序”或“应用程序程序”。每种自动化测试设备类型以及要评估的每个微芯片都需要创建一个唯一的测试程序。

此外，ATE网络由称为“正在测试的设备”的电子界面组成，该电子界面可与正在测试的设备（DUT）相互作用。在大规模制造中使用定位工具将DUT与Ate自主联系起来。该集成小工具的定位工具称为处理程序。“ Prober”用于处理半导体晶圆。

Ate的优势

通过现代化和优化以前手动的测试工具，方法和操作，ATE系统减少了测试时间并为企业节省大量财务节省。通过消除极不一致的操作员干预，自动化可以确保测试和周期时间的均匀性。

为什么晶体管自加热是一个主要问题？

晶体管自加热是一个主要问题，根据发表在2021 IEEE第39届VLSI测试研讨会（VTS）。自加热对芯片性能产生重大影响，包括组件色散劣化，负输出渗透性，阈值电压变化和微芯片可靠性。

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首先，传统的芯片热传感器/二极管仅监视硅死亡水平，因此无法监测或感知自加热，因为产生的能量包含在晶体管中，无法到达芯片温度传感器可以在其上可以到达硅晶片。检测到它。

但是，现有的芯片延迟探测器也将无法感知自加热，因为在自加热产生的高温中，对逻辑大门的刺激延迟促进的效果可能受到限制，并且在与传统相关的可接受频谱中可能受到限制。过程波动。

新型的非毁灭性半导体测试

这2022莫斯科电子和网络技术研讨会（MWENT）提出了一项针对共聚焦红外显微镜的研究，该研究是针对半导体结构的非破坏性测试而设计的。开发中的激光扫描共聚焦红外显微镜（LSCIRM）基于红外显微镜（IRM）和共聚焦激光扫描显微镜概念（CLSM）。

与现有的半导体研究方法不同，LSCIRM将允许对断层，间隙或外国物质截留的识别和评估，不仅在外部，而且在内部结构内。LSCIRM在研究过程中不需要任何特定的环境参数，例如密封室。

LSCIRM也可以用于反向工程，探测机械后门，并因此被伪造检测。LSCIRM的基本结构允许将其与各种激光源配对。它可以对IC进行各种辐射研究，以及使用分析性非破坏性测试程序。

未来的市场趋势

发表在财富业务洞察力对半导体测试行业进行了彻底的市场趋势分析。全球半导体制造和测试运营市场预计将以5.5％的复合年增长率从2021年的318.6亿美元增加到到2028年的462.4亿美元。

高端半导体测试和集会行业需要大量资本支出来生产昂贵的设备。2020欧洲杯下注官网降低温度评级的需求不断增长，需要使用创新的包装技术。这些投资在市场参与者中是众所周知的。但是，中小型企业发现提供高端服务，扼杀全球市场增长是一项挑战。

简而言之，半导体测试设备专门为预期的测试程序制造。2020欧洲杯下注官网但是，仍然需要许多研究来克服缺点，并为无线测试设备的快速商业化铺平道路。2020欧洲杯下注官网

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参考和进一步阅读

Daniel，B.，2021年。什么是自动测试设备？2020欧洲杯下注官网[在线]可用：https://www.trentonsystems.com/blog/automatic-test-2020欧洲杯下注官网equipment-overview#:~:text=its%20proper%20functionality.-,What%20are%20the%20components%20of%20an%20ATE%20system%3F，和％20 -test％20probes％20or％20手机。

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MJC，2022年。什么是半导体测试设备（IC测试器）？2020欧洲杯下注官网[在线]可用：https://www.mjc.co.jp/en/technology/column/tester.html#:~:text=Semiconductor%20test%202020欧洲杯下注官网equipment%20(IC%20tester)%2C%20or%20automated%20test%20equipment,指定％20in％20ITS％20Design％20规定

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Ukolov，D.，Baluev，A.，Gromova，P.，Pechenkin，A。，＆Mozhaev，R。（2022年，6月）。激光扫描共聚焦IR显微镜用于半导体的非破坏性测试。2022年，莫斯科电子和网络技术（MWENT）（第1-3页）。IEEE。可用网址：https：www.doi.org/10.1109/MWENT55238.2022.9802329

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