大型横截面的紧凑横截面抛光剂

JEOL USA，Inc。引入了一种新的紧凑型横截面抛光剂（CSP），专门设计用于制备大区域横截面的样品，用于成像其全面的扫描电子显微镜（SEMS）。

The CSP, JEOL’s model SM-09010, is a simple-to-use, cross section polisher that enables observation of multi-layer structures, interfaces, composites of soft and hard materials, polymers, powder grains, and crystalline structures of metals and ceramics with few artifacts. In a single step, it produces clean, polished samples suited for SEM imaging, EDS, WDS, and EBSD analysis.

CSP使用氩离子束准备高达11mm（W）x 10mm（d）x 2mm（h）软材料的样品，同时保留内部结构，界面之间的空隙，层之间的粘附，层和沉淀物。欧洲杯足球竞彩与常规的机械抛光剂不同，CSP最大程度地减少了抛光表面的变形，从而可以清晰地观察结晶结构。

JEOL CSP中的高功率光学显微镜使用户可以将样品定位在横截面位置的几微米内。在铣削过程中，样品会自动摇摆，以避免在横截面表面上产生束条纹。由于离子束的瞥见，氩气未植入样品表面。

CSP是一种台式设备，其具有真空室，该真空室被涡轮分子泵和一个支持X-Y运动和角度控制的标本阶段撤离。氩离子枪获得高电流密度，可实现高速，一致的铣削。其他好处包括低工作成本和清洁操作。

发表于9月21日^英石2004