CSMA与欧洲航天局续签有关激光损伤和污染的合同

CSMA续签了与欧洲航天局(ESA)的合作合同。

CSMA在确定激光损伤和激光污染的原因和减少其影响方面提供专业知识、咨询和分析服务。

对关键光学元件进行了分析，以帮助识别污染和调查损害。

在专业科学知识的支持下，一系列技术被用来调查独特的细微缺陷:

•超低能二次离子质谱法

•溅射中性质谱和

•透射电子显微镜

组合使用来询问涂层部件的表面和近表面。

ULESIMS提供非常高分辨率的元素深度信息，是监测物种深度的理想选择。

的需求提供量化的基本信息，有深度，不需要标准。

透射电子显微镜(TEM)与FIB(聚焦离子束)样品制备，可以用来产生高分辨率的薄膜图像，以查看组成，结构和提供晶体信息。

2006年4月发布