图形半导体的紫外显微镜

由CRAIC技术2008年4月24日

CRAIC技术是世界领先的紫外-可见-近红外光谱科学仪器的开发公司。这些包括QDI系列紫外-可见-近红外显微分光光度计仪器，旨在帮助您无损地测量微观样品的光学特性。CRAIC的UVM系列显微镜覆盖UV，可见和近红外范围，帮助您分析亚微米分辨率远远超出可见范围。CRAIC公司还拥有CTR系列拉曼微光谱仪，用于微观样品的无损分析。不要忘记，CRAIC自豪地支持我们的显微光谱仪和显微镜产品，提供无与伦比的服务和支持。

图片来源:伤风/

图形半导体的紫外显微镜

CRAIC技术公司开发了一种宽光谱范围的显微镜UVM-1紫外线显微镜．这种独特的显微镜是专为高分辨率成像的整个紫外，可见和近红外光谱区域。由于其设计的灵活性，该系统能够从单个波长成像到宽光谱范围。这些范围可以被用户选择和容易地改变。

该系统的最初应用之一是对小型半导体电路进行成像。下图是在波长范围为279到367 nm (FWHM)的镜面入射照明下对一个有图案的晶圆片进行成像的图像。这使得操作者能够成像非常精细的细节，并研究在UV区域吸收的无色材料。欧洲杯足球竞彩

图形半导体的紫外显微镜

主要作者:保罗·马丁博士

这些信息已从CRAIC技术公司提供的材料中获取、审查和改编。欧洲杯足球竞彩

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引用

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美国心理学协会
CRAIC技术。(2020年10月23日)。图形半导体的紫外显微镜。AZoM。于2021年7月13日从//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=4181检索。
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CRAIC技术。“图形半导体的紫外显微术”。AZoM．2021年7月13日。< //www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=4181 >。
芝加哥
CRAIC技术。“图形半导体的紫外显微术”。AZoM。//www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=4181。(2021年7月13日通过)。
哈佛大学
CRAIC技术。2020。图形半导体的紫外显微镜．AZoM, viewed July 2021, //www.wireless-io.com/article.aspx?ArticleID=4181。