扫描探针显微镜

扫描探针显微镜使纳米级持续增长的电气和机电表征知识库。这种全面的两卷套装具有高级扫描探针显微镜（SPM）技术的实用性和理论问题，从基本物理研究到设备表征，失败分析和纳米制备。第1卷专注于SPM方法的技术方面，范围从扫描隧道电位测量到电化学SPM，并解决了SPM成像机制底层的基本物理现象。体积2集中在SPM表征各种材料的实际方面，包括半导体，铁电，电介质，聚合物，碳纳米管和生物分子，以及基于SPM的纳米制作和纳米刻度的方法。欧洲杯足球竞彩

写于：
来自不同学科的学术和工业科学家和工程师，如物理，化学，生物学，工程，材料科学和生物技术使用或想要在研发中使用扫描探针方法。欧洲杯足球竞彩欧洲杯线上买球章节也将成为这些领域的高级本科和研究生的价值。

目录
用于电学特性的SPM技术。- 扫描隧道显微镜和隧道电位测量。- 扫描抗扩散显微镜和扫描电位测量。- 扫描电容显微镜和纳米阻显微镜显微镜。- 扫描栅极显微镜。-Force的SPM传输测量：KPFM，EFM和SIM。-piezoresponse力显微镜。- 力学力显微镜。-microWave显微镜。- 现场光学显微镜。 -Electrochemical STM. -Advanced SPM Probes for Electrical Characterization. -Electrical and electromechanical imaging at the limits of resolution. -Surface Metal Insulator Transitions. -Spin polarized STM. -STM probing of molecular transport. -Kelvin Probe Force Microscopy of atomic systems. -Single-electron transport in 1D systems. -Theoretical aspects of electrical transport imaging in molecular systems. -Friction on the atomic scale. -Mechanics on the molecular scale. -Electrical SPM characterization of materials and devices. -SPM transport in semiconductors. -SCM and KPFM of semiconductor heterostructures. -SPM characterization of Ferroelectric Materials. -SCM of operational devices. -Photoinduced phenomena in semiconductor heterostructures. -SPM characterization of III-nitrides materials. -Advanced semiconductor metrology by SPM. -Transport in organic electronics. -Electrical nanofabrication. -Direct Nanooxidation. -Ferroelectric Lithography. -Resist-based SPM oxidation techniques. -Charge deposition lithography. -Electrochemical surafecSurface Modification.