薄金属膜的电阻率

薄膜的物理行为通常从相应的散装材料的物理行为显着偏离。本书的目的是报告银和金薄膜的电气，光学和结构性质，其依赖于基材材料，退火处理和气体吸附。主要点是计算传导电子的散射横截面，这应该提供薄膜生产过程中残余气体的影响的估计，以及技术应用的可靠性，例如在微电子中导电连接;强调特定定制的光学元件或支撑的催化剂。所有这些结果都是通过扩展的实验数据，以及许多插图和表格来证实。

写于：

• 在这个领域工作的科学家

关键词：

• 电气和光学性质
• 气体吸附
• 散射假设
• 表面科学欧洲杯线上买球
• 薄膜

目录

介绍。 - 散射假设 - 退火对薄银膜电阻率的影响。退火对薄金膜电阻率的影响。氧气和金膜与银膜的相互作用。 - 其他吸附物在银和金电影上.-进一步选择的吸附系统.-结论和前景。