Phenom ProX桌面SEM是终极的一体化成像和x射线分析系统。有了ProX，样品结构可以进行物理检测，并确定其元素组成。
可选的元素测绘和线扫描软件可以进一步分析元素的分布。Pro Suite PC上包含并安装了一个专用软件包来控制完全集成的EDS检测器。
分析变得像成像一样简单，因为不需要在外部软件包或计算机之间切换。eds技术分析了电子束中电子与样品相互作用产生的x射线。天工CeB6电子源在其细分市场中产生的x射线数量最多。元素识别软件包允许用户通过spot模式分析识别样本内的任何隐藏元素。
采用迭代峰剥离反褶积法对所有结果进行了验证。软件中逐步引导的过程帮助用户以有组织和结构化的方式收集所有的x射线结果。可选的，这个软件可以扩展元素映射和线扫描选项。
客户证明
在现场有一个Phenom SEM是一个巨大的时间节省…没有Phenom ProX SEM，我们就不可能开发出我们最新的产品
改进的过程。
彼得Guercio
PLC石墨加工服务和创新总裁
主要规格
- 一个系统，所有答案
- 放大范围20 - 100,000倍
- 元素检测范围:C - Am
- 长寿命高亮度光源(CeB6）
- 多重加速电压:5 kV和10 kV的高分辨率图像，和15 kV的伟大的分析结果
- 电子束电流选择调谐成像设置或高通量分析
- 永远不会失去导航:快速导航到任何感兴趣的地区
- 可选软件:元素映射和线扫描
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