X-Strata920微点XRF分析仪

基于x射线荧光(XRF)的涂层厚度测量是业界公认的技术，提供快速和无损分析。的X-Strata920用于测量电子和金属加工行业的单层和多层涂层(包括合金层)。

我们的内部应用专家已经优化了X-Strata920，以确保您获得可靠的，可重复的结果数百种应用，包括PCB表面饰面，连接器涂层，耐腐蚀，装饰饰面，耐磨，耐高温等。每密或微米的计数，X-Strata920给你需要的精度和可靠的结果。

X-Strata920提供了大约800个预加载的、易于选择的应用程序参数/方法。该光谱仪在多种元素上都有很高的性能。利用二次光束滤波器可以实现重叠参数的谱分离。

当没有校准标准时，基本参数(FP)方法可提供可靠的定量结果。使用了一些标准，并通过经验校准获得了最好的结果和准确性。自动热补偿使仪器能够测量温度并修正变化，从而提供稳定的结果。简单和快速的光谱校准可以检查仪器的性能和执行所需的修正。为了满足分析需求，X-Strata920有三种配置选项:标准基、可编程基和小型井基。它具有自动锁定功能，有助于防止未经授权使用仪器。

应用程序

X-Strata920的应用有:

• 进行固体和溶液分析
• 非破坏性分析
• 定性、半定量、全定量分析
• 仅需极少或不需要样品制备
• 使用X-Strata920只需要最少的训练
• 可以确定的元素范围很广
• 以秒为单位提供结果
• 为了提高安全性和质量，建立消费者信心，促进市场准入和贸易，国际上采用了标准测试方法、指南和规范。X-Strata920符合ISO 3497:用x射线光谱法测量涂层厚度的金属涂层。同样，它也符合ASTM B568:通过x射线光谱测量涂层厚度的标准测试方法。