尺寸图标原子力显微镜从布鲁克

布鲁克的Dimension Icon AFM集成了该公司在大样品尖端扫描AFM平台上的行业领先的纳米级成像和表征技术的最新进展。

Icon AFM的温度补偿位置传感器渲染X-Y轴的埃范围和z轴的亚埃范围的噪声水平。这种性能水平定义了最新一代的原子力显微镜应该是什么。

终极性能

  • 无失真的图像以每分钟200 pm以下的漂移率即时呈现
  • 在小于30μm的噪声底板上显着降低,允许在子纳米分辨率下成像
  • 专有的传感器设计提供了闭环性能,并且具有以前AFM无法达到的噪声水平

增强纳米级自动化

Automet™软件仅来自Bruker,允许使用快速自动计量的高分辨率AFM成像组合。它提供了适应性和优异的易用性,用于在大容量测量应用中执行关键质量测量。

AutoMET™软件具有简单直观的菜谱编写环境,使其非常简单,可将困难的测量例程简化为简单的按钮操作。

非凡的生产力

  • 纳米镜®软件和ScanAsyst®配备了默认实验模式的成像将多年的知识提取到预先配置的设置中
  • 内置对齐工具允许探头优化和快速定位
  • X-Y定位和高分辨率摄像头提供了更快、更有效的样品导航

下载:重新定义AFM性能和生产力

优越的多功能性

  • 自定义用户可编程脚本启用半自动分析和测量
  • 样品和尖端的广泛开放的访问,适应广泛的定制和标准的实验
  • 软件和仪器的设计,以利用所有现有和未来的AFM技术和模式从布鲁克
  • PeakForce sMIM™能够实现高灵敏度和全面的电导率和介电常数纳米级映射

直观的图形用户界面立即访问八个通道和广泛的控制器功能。图像数据(左)显示三嵌段共聚物的形貌,具有5kx5k数据。

直观的图形用户界面立即访问八个通道和广泛的控制器功能。图像数据(左)显示三嵌段共聚物的形貌,具有5kx5k数据。图像信用:布鲁克纳米表面

应用程序

材料映射

Icon AFM支持专利PeakForce QNM®布鲁克的成像模式,允许科学家定量地绘制和区分纳米力学特征,同时以高分辨率成像样品的地形。

该技术的工作范围非常广(黏附系数为10 pN至10 μN,模量为1 MPa至50 GPA),可以表征许多不同类型的样品。

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图像信用:布鲁克纳米表面

电气特性

专利模式使电特性在纳米尺度具有更大的动态范围和灵敏度。这些研究可以与其他方法相结合,如Dark Lift,在扫描扩散电阻显微镜(SSRM)、扫描电容显微镜(SCM)、隧道AFM(金枪鱼)和扭转共振金枪鱼中获得无伪影结果。

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图像信用:布鲁克纳米表面

纳米操作

光刻和操作可以在分子和纳米尺度上进行。Icon AFM的XYZ闭环扫描仪提供了精确的探头定位,没有任何压电蠕变。它还提供非常低的噪音,以最佳定位任何纳米操作系统。

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图像信用:布鲁克纳米表面

加热和冷却

在不同的AFM模式下扫描时,可以对样品进行−35°C至250°C的热分析和温度控制。或者,热探针可以用于进行低于100 nm的局部加热,最高可达400°C。

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图像信用:布鲁克纳米表面

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