NT-MDT的NTEGRA光谱整合了共聚焦拉曼和荧光显微镜的完全功率，扫描近场光学显微镜，以及在单个仪器中的原子力显微镜。由于尖端增强拉曼散射，NTegRA光谱有助于进行光谱学和显微镜，最高可达10nm的分辨率。
NTEGRA光谱支持大多数现有的AFM模式，提供了具有纳米级分辨率的样品物理性质的完整信息。同时与AFM，拉曼和共聚焦荧光测量提供了有关样品晶体结构及其定向，化学成分，大分子构象，杂质和缺陷等的信息的信息。
NTEGRA光谱配备了新的电子产品和软件，为纳米机械专员提供了新的混合模式™，以及用于在单个测量会话中精确相同区域的化学成像的拉曼。
主要特征
- 同时AFM和共焦拉曼/荧光成像
- 支持大多数当前的AFM模式
- 分子尺度的显微镜和光谱学
- Hybrid™模式
- 可以通过倒置或直立的光励磁几何形状进行测量
- 检查超出衍射极限的光学性质
- 可以通过达到理论极限的空间分辨率来检查3D光谱分布
应用程序
- 聚合物
- 化学反应控制
- 半导体器件
- 纳米线，量子点，纳米管和其他纳米级材料欧洲杯足球竞彩
- 碳纳米管，石墨烯和其他碳材料欧洲杯足球竞彩
- 光学器件表征：光纤，等离子体器件，半导体激光器和波导
- DNA，病毒，细胞组织和其他生物物体的研究