可负担的研究AFM - XE7

公园XE7是一种先进的,但负担得起的研究级原子力显微镜,具有各种独特的功能。它允许灵活的样本处理,使用户能够在时间和预算范围内进行研究。

XE7提供了高纳米尺度分辨率的精确测量。独立的XY和Z弯曲扫描使用户能够获得样品的图像和它们的典型测量真实的纳米结构。此外,独特的True Non-Contact™模式提供连续清晰的图像,而不影响分辨率。

其他特性,如开放存取设计、广泛的测量模式、自动化工具和直观的图形用户界面,使Park XE7成为研究应用的通用仪器。

关键特性

Park XE7的主要特点是:

  • 经济易用
  • 高性能
  • 独特的AFM架构
  • 自动化工具
  • 两个独立的,闭环XY和Z挠曲扫描仪的样品和探针尖端
  • 简单的样品和尖端交换
  • 简单的激光准直
  • 上轴自顶向下光学观察
  • 用户友好的扫描控制
  • 直观的图形用户界面
  • 在整个扫描范围内的出平面运动小于2nm
  • 精确的高度测量,无需任何软件处理
  • 更少的尖端磨损延长高质量和高分辨率成像
  • 减少样品损坏或修改
  • 广泛的样品测量选项

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