Bruker的DektakXT™Stylus Profiler具有创新的设计，可重复性优于4Å。手写笔分析器性能的关键里程碑是由于40年的Dektak®创新和行业领导。
DektakXT提供了极好的易用性，性能和价值，更好的过程监控从研究和开发到质量控制。Dektak的突破使半导体、微电子、高亮度LED、太阳能、医疗和材料科学行业的关键纳米级测量成为可能。欧洲杯足球竞彩欧洲杯线上买球
关键特性
DektakXT的主要特点是:
- 优于4Å的重复性，提供高精度
- 单拱设计，使突破扫描稳定性
- 领先的“智能电子”建立新的低噪声基准
- 与前几代相比，新的硬件配置提供了40%的数据收集时间
- 64位并行处理Vision64软件架构可提供高达10倍的数据分析速度
- 卓越的效率和易用性
- 直观的Vision64™用户界面工作流简化了操作
- 自调整风格允许毫不费力的小费交换
- 全球唱针分析器领导者的高价值
- 布鲁克以实惠的价格提供了卓越的表现
- 单传感器设计在单一平台上提供低力和扩展范围
关键应用程序
DektakXT™Stylus Profiler的某些关键应用程序是:
- 薄膜检查-确保高产量
- 表面粗糙度验证-保证性能
- 太阳能示踪分析-降低制造成本
- 微流体。验证设计和性能