来自Bruker的Gage的ContoursP大面板计量系统

PCB制造商正在高度薄的高密度互连(HDI)和多芯片模块(MCM)基板上开发密集和小功能。

来自Bruker的功率的ContoursP大面板计量系统特别设计用于在制造期间测量每个PCB面板层,确保最小配方开发时间,最高产量,最高升高和最低成本生产在生产中。

主要特点

Bruker的功率支持的Contours大面板计量系统的关键特征是:

  • 独特的能力,可实现优异的生产力
  • 最高吞吐量,比上一代系统快两倍以上
  • 动态信号分割(DSS)
  • 重复函数
  • 扫描以补偿晶圆弓的地形扫描
  • 简单坐标文件导入,主动ESD保护
  • 基于Vision64的操作员访问控制®
  • 用于多工具和多工厂部署的食谱便携性
  • 全自动,非接触式,高吞吐量,3D HDI / PCB表面表征;分析库:RA粗糙度,迹线,通孔,焊盘间隙,凹坑,锚,覆盖,焊接,包括通过分析纤维增强PCB和厚膜
  • 全自动和半自动的函数;易于使用的生产模式,内置数据库和通过/失败的任何参数可选拼接,Matlab®/ TCPIP,厚膜,SECUVISION;可选的康科克愿景/识别系统;FixSure™定制夹具为翘曲/蝴蝶结拥有高达6mm的面板设计
  • 全面的PCB-HDI-MCM面板和厚膜分析套件;Vision64 3D光学测量和分析软件;微软®Windows 7的®64位O / s
  • 具有双RAID1驱动器的先进的多核英特尔处理器PC;键盘,鼠标,XY轴和Z对焦控制的操纵杆盒;
  • 23英寸。平板显示器安装在ergotron上®支持单位

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