这NEXVIEW™3D光学表面分析器从Zygo可以测量几乎任何表面的地形，从光滑到粗糙度，具有亚纳米精度，与视野无关。
测量类型包括粗糙度，平坦度，陡坡，薄膜，大的步骤和表面形貌，从高度为1nm，高度高达20000μm。
NEXVIEW™分析器可以测量具有子埃宽表面粗糙度的超级抛光光学表面，以陡峭的机械角度高达85度。它提供了其他分析技术的最佳品质，如焦点扫描，手写笔和共用，而无需其缺点。用户不再需要根据他们想要测量的表面类型选择分析器。
NexView™Profiler还利用了所有新的MX™软件，该软件为系统控制和数据分析提供了数量的地形信息，丰富的交互式3D地图，直观的测量导航，通过/失败限制，控制图和内置于SPC的统计信息。
主要特征
NEXVIEW™3D光学表面分析器的主要功能包括：
- 流线型设计
- 自动化操作
- 没有妥协分析
- 3D和非接触式测量
- 振动公差技术
- 功率能力的性能
- 所有新分析和控制软件
- 直观的用户界面
- ISO 25178表面测量参数
- 所有新的图形工作流软件