的下一代QUANTAX EDS来自Bruker的XFlash®6探测器结合了细线技术和广泛的活跃区域。Bruker的EDS探测器与增强型混合脉冲处理器集成，以在功能和高性能方面建立一个新的基准。
XFlash®6T探测器为TEM和STEM提供最小的机械和电磁干扰以及TEM和S/TEM最大的立体角。他们提供最佳的起飞角度，避免样品倾斜的必要性。
关键特性
用于TEM/STEM的Bruker QUANTAX EDS的主要特点包括:
XFlash®6T | 30 -第一个像差校正TEM的SDD:
XFlash®6T | 60 -大立体角SDD Å-scale TEM分析:
- 60 mm²有效区域探测器用于分析在低x射线产量条件下
ESPRIT 2分析软件用于定性和定量分析，定量例程包括:
- 无标准和基于标准的Cliff-Lorimer定量分析
- 高精度ζ因子量化
应用程序
Bruker的QUANTAX EDS在TEM/STEM中的关键应用包括:
- 描述半导体结构
- 生命科学研究中心欧洲杯线上买球
- 磁性纳米结构分析
- 研究核壳粒子欧洲杯猜球平台
- 化学相分析
- 化学特性
- 原子列EDS
- 单原子EDS