这Quantax Micro-XRFXTrace微点X射线源将总微XRF光谱仪的特征添加到SEM。用户的优势来自完整的微XRF光谱仪和扫描电子显微镜（SEM）的能力，以及通过跟踪元素灵敏度和XRF分析的更高信息深度的这种利润以及SEM能量的较高信息深度 -分散光谱法（EDS）。使用多毛细管X射线光学器件有助于在非常小的样本区域产生高荧光强度。X射线光学器件从大型实心角收集管辐射，并将X射线浓缩至下降至35μm的直径，用于MO-K辐射。
使用附加的XFlash®硅漂移探测器测量生成的X射线荧光谱，属于量子EDS系统。使用Xflash®SDD提供优异的能量分辨率，由探测器规格确定。使用30mm2有源区域检测器，可以在分析金属分析中实现约40kcps的计数。
主要特点
Quantax Micro-XRF光谱仪的关键特征包括：
- 可以用EDS和Micro-XRF分析样品，而无需位置变化
- 两个测量方法都在相同的分析软件套件 - ESPRIT中实现，使能方法更改为鼠标点击
- 它不会干扰标准SEM操作和EDS，XTrace可以保持在适用于大多数任务的固定位置
- 可以将分析结果与独立系统进行比较
- 图像平铺有助于映射大区域
- 三个主要辐射过滤器以抑制衍射峰值
- 使用SEM阶段，不需要单独的阶段
- 另外通过SEM阶段旋转避免XRF光谱中的衍射峰值
- 允许样品倾斜以产生最小点尺寸
- 在一个界面下操作所有分析工具
- 使用鼠标点击切换方法之间的切换
- 用不同方法直接分析相同的样本位置
- 通过不同的方法轻松组合分析结果
应用程序
XTrace显着提高了扫描电子显微镜中的元素分析的多功能性。它涵盖了材料分析（金属和催化剂）取证（油漆，玻璃和枪欧洲杯足球竞彩渣），地球科学等的应用。欧洲杯线上买球
申请包括
- 多层样品的特征
- 可靠的金属和合金鉴定
- 分析PCB上的组件和电路
- 聚合物中的金属和危险因素