MicroSense公司的UltraMap 200-BP自动硅片厚度和平面度测量系统

UltraMap 200 -英国石油公司是一种柔性硅片测量系统,能够使用MicroSense专利的非接触式自动探头背压技术测量硅片厚度、形状和平面度。

UltraMap 200-BP可以确定多种晶圆材料和晶圆厚度。欧洲杯足球竞彩晶圆的表面光洁度不影响测量。这种多功能系统测量研磨、锯切或抛光晶圆。

UltraMap 200 -英国石油公司可测量50µm的薄晶片和3mm厚的厚晶片。所有这些都是快速和有效地实现,而不需要复杂和耗时的调整测量装置。

此外,该系统还提供了多种晶圆支架。根据在系统上测量的晶圆的直径和厚度,可以使用一个或多个晶圆支架。基片和晶圆可以是方形或圆形,长度可达200mm。

关键特性

其主要特点是UltraMap 200 -英国石油公司包括:

  • 测量厚的和薄的晶圆
  • 测量任何基片或晶片,而不考虑晶片的光学或电学特性
  • 测量晶圆的经度可达+/- 2500µm
  • 在弯头小于500µm的晶片上,绝对厚度测量精度为0.5µm
  • 在大于500µm和小于1000µm的晶片上,绝对厚度精度为1.5µm
  • 高重复性,非接触式空气轴承工作台,可重复定位硅片
  • 自动校准背压传感器与内置校准标准
  • 可提供三种配置:独立的,自动加载系统与机器人和两个磁带;机器人全自动分拣系统,最多可分拣6盒;和手动加载台架系统
  • 系统选项包括晶圆预对准器,用于各种晶圆厚度和直径的晶圆支架,OCR阅读器(单面或双面)和SECS/GEM

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