NanoIndentation TesterNHT³ - 一种用户友好的纳米印章

NanoIndentation TesterNHT³.具有从低负荷(0.1mN)到高负载(500mn)的范围,浅深度(小于20nm)到更大的深度(高达200μm)。对于多种高级缩进模式,它不仅坚固但也快速且易于使用:连续多周期(CMC),用户定义的序列,窦模式(可选),高级矩阵和多示例协议。

NHT³与液体测试相容。其“快速矩阵”缩进模式每小时最多可达到600次,具有完整的纳米凸缘曲线。其高负荷框架刚度(107 n / m)和高热稳定性(原始漂移率<0.05nm / s)导致高精度。

NHT³纳米凸缘测试仪

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