来自Bruker的Optimus™检测器头部设计为额外的可互换探测器，用于其E-Flash EBSD探测器范围。它提供了在扫描电子显微镜（SEM）中执行传输Kikuchi衍射（TKD）的理想几何条件。高级探测器头由水平荧光屏组成，该水平荧光屏可以放置在电子透明样品下方，以检测最强的衍射电子信号。
Optimus™兼容所有Bruker E-Flash EBSD探测器，使单个检测器能够用于EBSD和TKD。
在具有垂直屏幕的EBSD探测器上使用Optimus™，有两个主要优点：
- 获取最强的信号，允许用户更快地获得数据，或者在较低的加速电压和/或光束电流下获取增强的横向空间分辨率。低加速电压使得能够分析非常薄的样品，因为它增加了与晶格相互作用的概率。
- 所获得的图案表现出尽可能低的凝结投影失真，这导致带有频带检测和索引精度的改善
Bruker的Optimus™检测器头用于SEM中的TKD
主要特点
Optimus™检测器头的主要功能如下：
- 可以使用电子能量下达5 keV和探头电流降至100Pa
- 用户可在几分钟内互换
- 自动碰撞保护系统
- 通过TKD模式集成在ESPRIT 2软件中
- 用于深色和明亮场图像采集的集成Argus™成像系统
- 与Bruker TKD样品架和所有XFlash®EDS探测器无缝集成
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