这纳米叶扫描头具有小的占地面积，使纳米叶是最合适的原子力显微镜，以融入自动化的工业环境。
纳米膜的分辨率小于1nm。该分辨率允许显微镜识别和可视化尺寸非常小的表面结构。通过广泛的集成可能性和设备的简单处理，产品分析是完全新的水平。
用户应检查预期结构的不规则性和涂层，或者它们应该利用额外的AFM测量模式来识别在地形中不可见的功能。
纳米叶被认为是理想的质量控制工具，因为它易于使用和再现性。它非常适用于半导体制造，生产过程优化，精密工程等领域。
主要特点
纳米末的主要特征包括：
- 自动批量测量和系统集成脚本界面
- 悬臂的快速简便，交换和对齐有助于减少停机时间
- 耐用且紧凑的原子力显微镜，用于大级，单独运行
应用程序
纳米膜显微镜具有以下应用：
- 质量控制/产品开发
- 大区域包括拼接
- 串行或自动测量
- 集成到不同的分析系统中