SENTECH公司设计的多角度激光椭偏仪SE 400adv PV用于提供在HeNe激光波长为632.8 nm时织构多晶硅和单晶硅片上减反射单膜的折射率和膜厚。
可互换的晶片支架可以测量碱性结构的单晶片和多晶片。SE 400adv型光伏激光椭偏仪可以专门检测ITO、TiO涂层2,罪x铝的薄钝化层2O3.和SiO2．双层堆叠可以在光滑的基片上检查。
的400 SE副词光伏是一个紧凑的工具，启动迅速。SENTECH简单易用的基于食谱的软件集成了一个完整的预定义应用程序包，匹配研发和生产设置中的质量控制的必要性。
提供了一种便携式激光椭偏仪用于光伏应用，用于在整个生产线开始之前测试和安装大型PECVD系统。
特殊的准确性和稳定性-这是由于温度稳定的补偿设置，超低噪声探测器，稳定的激光光源。
世界电弧标准-目前，330以上的SE 400adv光伏激光椭偏仪正在世界各地用于描述减反射涂层。
粗糙表面分析-非常灵敏，超低噪音检测允许在非理想的杂散光下进行测量，使表面具有纹理多晶硅和单晶硅太阳能电池的特性。